发明名称 光检测器及其制造方法
摘要 一种光检测器及其制造方法,此光检测器包括第一基板以及光转换元件。第一基板具有感应元件阵列,此感应元件阵列用以接收特定波长范围的频谱。光转换元件位于感应元件阵列上,其中光转换元件包括光转换材料层以及经掺杂的光转换材料柱状结构层,经掺杂的光转换材料柱状结构层的发光频谱与特定波长范围重迭,且光转换材料层的发光频谱与特定波长范围不重迭。采用本发明可避免在沉积经掺杂的光转换材料柱状结构层的初期形成不规则的晶粒,进而可改善光散射的问题使影像的分辨率增加。
申请公布号 CN103474441B 申请公布日期 2016.08.10
申请号 CN201310341672.4 申请日期 2013.08.07
申请人 友达光电股份有限公司 发明人 陈德铭;林钦茂
分类号 H01L27/146(2006.01)I;H01L31/0232(2014.01)I;H01L31/115(2006.01)I 主分类号 H01L27/146(2006.01)I
代理机构 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人 梁挥;鲍俊萍
主权项 一种光检测器,其特征在于,包括:一第一基板,其具有一感应元件阵列,该感应元件阵列用以接收一波长范围的频谱;以及一光转换元件,位于该感应元件阵列上,其中该光转换元件包括一光转换材料层以及一经掺杂的光转换材料柱状结构层,该经掺杂的光转换材料柱状结构层的发光频谱与该波长范围重迭,且该光转换材料层的发光频谱与该波长范围不重迭,该光转换材料层包括纯碘化铯,且纯碘化铯的发光频谱介于290纳米至340纳米之间。
地址 中国台湾新竹科学工业园区新竹市力行二路1号