发明名称 |
用于光子工具和电磁跟踪引导的支气管镜的用户接口 |
摘要 |
一种用于支持探察对象的内部的系统和方法。所述系统100、200包括用于生成图形用户接口(GUI)的图形用户接口发生器(GG)。图形用户接口(GUI)包括介入工具(IT)在对象(OB)里面的当前位置的指示器(NC)。还存在用于指示在对象(OB)中的当前位置处的工具的端部(TP)周围的材料成分和/或类型的探察指示器(PC)。探察指示器(PC)包括用于针对一定范围的可能值相对于刻度盘元件的当前读数的指针元件。 |
申请公布号 |
CN105828739A |
申请公布日期 |
2016.08.03 |
申请号 |
CN201480069682.X |
申请日期 |
2014.12.17 |
申请人 |
皇家飞利浦有限公司 |
发明人 |
B·H·W·亨德里克斯;T·M·比德隆;A·T·M·H·范基尔索普;G·W·吕卡森;V·帕塔萨拉蒂;V·V·普利;M·范德沃尔特;M·米勒;G·H·M·海斯贝斯 |
分类号 |
A61B90/00(2016.01)I;A61B34/20(2016.01)I;A61B1/267(2006.01)I |
主分类号 |
A61B90/00(2016.01)I |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 72002 |
代理人 |
李光颖;王英 |
主权项 |
一种用于探察对象的内部的系统,包括:介入工具(INT),其具有用于引入到所述对象中的端部部分;导航装备(NAV),其被配置为当所述工具驻留在所述对象中时产生指示所述端部在所述对象里面的当前位置的当前位置信息;探头(PR),其用于引入到所述对象中,所述探头被配置为接收从所述对象的内部反射开的非电离辐射;谱分析仪(SA),其被配置为将接收到的辐射关于谱分析成关于在所述介入工具的当前端部位置处或周围的所述对象的内部的材料成分和/或组织结构的探察信息,所述探察信息包括出现在所述介入工具的所述当前端部位置处或周围的材料类型的至少一个测量值和/或根据所述接收到的辐射的散射量的散射测量值;图形用户接口发生器(GG),其被配置为在显示单元上产生图形显示(GUI),当显示时所述图形显示包括:i)针对所述散射测量值或针对所述材料类型的测量值或针对从所述测量值中的任一个或两者导出的值的至少一个探察信息指示器(412;612;1120;1220),所述探察信息指示器包括:a)指针元件(411a‑411c;611;1115a‑1115b;1216a‑1216c),其被配置为指示所述测量值中的至少一个的当前读数或导出的值的当前读数;以及b)刻度盘元件(413a‑413c;613;1215a‑1215b),其被配置为指示值的范围,其中,所述指针元件相对于所述刻度盘元件显示;以及ii)针对所述对象的内部中所述端部的位置的所述当前位置信息的位置指示器(409;TP);并且所述系统还包括:所述显示单元(MT),其用于当使用所述系统时显示所述图形显示(GUI)。 |
地址 |
荷兰艾恩德霍芬 |