发明名称 |
用于FinFET的结构 |
摘要 |
本发明涉及用于FinFET的结构。其中,一种SRAM阵列由多个FinFET形成,这些FinFET由鳍线形成。每个鳍线形成于衬底中,其中鳍线的底部部分由隔离区域包围,并且鳍线的上部分在隔离区域的顶表面上方突出。从SRAM阵列的第一横截面图观看,每个鳍线为矩形形状。从SRAM阵列的第二横截面图观看,每个鳍线的端子为锥形形状。 |
申请公布号 |
CN103383964B |
申请公布日期 |
2016.07.27 |
申请号 |
CN201210265529.7 |
申请日期 |
2012.07.27 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
廖忠志 |
分类号 |
H01L29/78(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/78(2006.01)I |
代理机构 |
北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 |
代理人 |
章社杲;孙征 |
主权项 |
一种装置,包括:隔离区域,形成在衬底中;鳍线,形成在所述衬底中,其中:鳍线被第一栅电极结构包围,以形成第一晶体管;并且在所述鳍线的沿着其长度方向的截面中,所述鳍线的末端为锥形形状,所述鳍线包括:沟道,连接在所述第一晶体管的第一漏极/源极区域与第二漏极/源极区域之间;以及第二栅电极,包围所述鳍线,以形成伪晶体管。 |
地址 |
中国台湾新竹 |