发明名称 用于FinFET的结构
摘要 本发明涉及用于FinFET的结构。其中,一种SRAM阵列由多个FinFET形成,这些FinFET由鳍线形成。每个鳍线形成于衬底中,其中鳍线的底部部分由隔离区域包围,并且鳍线的上部分在隔离区域的顶表面上方突出。从SRAM阵列的第一横截面图观看,每个鳍线为矩形形状。从SRAM阵列的第二横截面图观看,每个鳍线的端子为锥形形状。
申请公布号 CN103383964B 申请公布日期 2016.07.27
申请号 CN201210265529.7 申请日期 2012.07.27
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 廖忠志
分类号 H01L29/78(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I 主分类号 H01L29/78(2006.01)I
代理机构 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人 章社杲;孙征
主权项 一种装置,包括:隔离区域,形成在衬底中;鳍线,形成在所述衬底中,其中:鳍线被第一栅电极结构包围,以形成第一晶体管;并且在所述鳍线的沿着其长度方向的截面中,所述鳍线的末端为锥形形状,所述鳍线包括:沟道,连接在所述第一晶体管的第一漏极/源极区域与第二漏极/源极区域之间;以及第二栅电极,包围所述鳍线,以形成伪晶体管。
地址 中国台湾新竹