| 发明名称 | 荧光读取器 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于包括聚合物样品基板（1）的光学分析装置的荧光读取器（10），该聚合物样品基板（1）具有反应位置表面和基板表面（3），该荧光读取器包括设置成通过基板表面照射反应位置表面的光源（5）、和设置成检测从反应位置表面发射的并透过基板表面的荧光的检测器件（6），基板表面设置有全内反射抑制部件（15）。 | ||
| 申请公布号 | CN102636469B | 申请公布日期 | 2016.07.06 |
| 申请号 | CN201210123087.2 | 申请日期 | 2007.03.21 |
| 申请人 | 阿米克公司 | 发明人 | 托马斯·林斯特龙;伊布·曼德尔-哈特维格;奥韦·奥曼;约翰·巴克伦;肯尼特·维尔赫尔姆森 |
| 分类号 | G02B6/00(2006.01)I;G02B6/34(2006.01)I;G01N21/64(2006.01)I | 主分类号 | G02B6/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 蒋骏;朱海煜 |
| 主权项 | 一种用于样品基板（1）的荧光读取器（10），该样品基板（1）包括：反应位置表面（2）和基板表面（3），反应位置表面（2）和基板表面（3）被相对彼此设置，该荧光读取器包括被定位以将激发光线射入到基板表面（3）中的激发光源（5）、和被定位以检测从反应位置表面（2）发射的并透过基板表面（3）的荧光的检测器件（6），其特征在于：所述基板表面（3）设置有位于发射的荧光光路中的全内反射抑制部件，从而提高通过基板表面的透射并且设置成释放陷在供检测器件（6）检测的样品基板（1）内的发射荧光，并且所述全内反射抑制部件包括与所述基板表面（3）物理接触定位的光收集部分（15）;其特征在于：所述光收集部分（15）具有与样品基板（1）的折射率相等或比其大的折射率。 | ||
| 地址 | 瑞典乌普萨拉省 | ||