发明名称 |
测试方法 |
摘要 |
一种测试方法,包括下列步骤,提供一导线架,其中导线架包括一框体以及多个通过框体而彼此相连且呈阵列排列的导线架单元;各导线架单元包括至少一与框体连接的第一引脚以及多个第二引脚,且这些第二引脚彼此相连;令多个控制器与这些导线架单元接合,并使各控制器分别与对应的导线架单元电性连接;令各导线架单元中的框体与这些第二引脚电性分离;对搭载有控制器的各导线架单元进行一第一电性测试。 |
申请公布号 |
CN105742199A |
申请公布日期 |
2016.07.06 |
申请号 |
CN201510988948.7 |
申请日期 |
2015.12.24 |
申请人 |
震扬集成科技股份有限公司 |
发明人 |
余政达 |
分类号 |
H01L21/66(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/66(2006.01)I |
代理机构 |
北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 |
代理人 |
马雯雯;臧建明 |
主权项 |
一种测试方法,其特征在于,包括:提供一导线架,该导线架包括一框体以及多个通过该框体而彼此相连且呈阵列排列的导线架单元,各该导线架单元包括至少一与该框体连接的第一引脚以及多个第二引脚,且该些第二引脚彼此相连;令多个控制器与该些导线架单元接合,并使各该控制器分别与对应的导线架单元电性连接;在该导线架上形成多个与该些导线架单元对应的第一封装体,该些第一封装体包覆该些控制器以及该些导线架单元,各该第一封装体分别具有一开口以暴露出对应导线架单元的部分区域;令该框体与该些第二引脚电性分离;以及对搭载有该控制器的各该导线架单元进行一第一电性测试。 |
地址 |
中国台湾新竹县竹东镇北兴路三段236巷10号10楼 |