发明名称 |
分光器件检测系统及检测方法 |
摘要 |
本发明适用于检测技术领域,提供了一种分光器件检测系统,用于检测分光器件是否存在断线区域,所述分光器件检测系统包括发光装置和图像检测装置,所述发光装置与所述图像检测装置连接,其中,所述发光装置将光照射在所述分光器件上,所述图像检测装置采集所述分光器件的出光以形成检测图像,并根据所述检测图像判定所述分光器件是否存在所述断线区域。由于分光器件具有分光作用,发光装置发出的光线经过分光器件向外出射,图像检测装置采集分光器件的出光以形成检测图像,图像检测装置对检测图像进行图像处理判定分光器件是否存在断线缺陷,检测更加可靠。本发明还提供分光器件检测方法,检测直观,检测效率高。 |
申请公布号 |
CN105716829A |
申请公布日期 |
2016.06.29 |
申请号 |
CN201410718735.8 |
申请日期 |
2014.12.01 |
申请人 |
深圳超多维光电子有限公司 |
发明人 |
赖敬文;刘志愿;宋磊;郭福忠 |
分类号 |
G01M11/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01M11/00(2006.01)I |
代理机构 |
深圳市凯达知识产权事务所 44256 |
代理人 |
任转英;刘大弯 |
主权项 |
分光器件检测系统,用于检测分光器件是否存在断线区域,其特征在于:所述分光器件检测系统包括发光装置和图像检测装置,所述发光装置将光照射在所述分光器件上,所述图像检测装置采集所述分光器件的出光以形成检测图像,并根据所述检测图像判定所述分光器件是否存在所述断线区域。 |
地址 |
518053 广东省深圳市南山区华侨城东部工业区东H-1栋101 |