测量液晶层对入射光的液晶效率的方法

摘要

本发明公开了一种测量液晶层对入射光的液晶效率的方法，该方法包括：保持液晶层的下偏振片不变，使液晶层的上偏振片和下偏振片处于第一状态，第一状态是指上偏振片的偏光轴和下偏振片的偏光轴平行的状态；在第一状态下，控制液晶面板画面的亮度为0灰阶，并测量目标位置液晶面板的亮度Lvx；在第一状态下，控制液晶面板画面的亮度为255灰阶，并测量目标位置液晶面板的亮度Lvy；根据亮度Lvx和亮度Lvy，确定液晶层对入射光的液晶效率。通过上述方式，本发明能够不用拆卸模组，测量次数少、简单，且效率和准确度均很高。

主权项

一种测量液晶层对入射光的液晶效率的方法，其特征在于，所述方法包括：保持液晶层的下偏振片不变，使所述液晶层的上偏振片和下偏振片处于第一状态，所述第一状态是指所述上偏振片的偏光轴和所述下偏振片的偏光轴平行的状态；在所述第一状态下，控制液晶面板画面的亮度为0灰阶，并测量目标位置所述液晶面板的亮度Lvx；在所述第一状态下，控制液晶面板画面的亮度为255灰阶，并测量所述目标位置所述液晶面板的亮度Lvy；根据所述亮度Lvx和所述亮度Lvy，确定所述液晶层对入射光的液晶效率。