主权项 |
一种金属及半导体薄膜材料光学常数的标定方法,由以下几个子步骤组成:1)取沉积于异种材料基底上的厚度在15‑100nm金属或半导体薄膜样品,所述异种材料是指与薄膜样品材料不同的固体材料;2)厚度确定:所述的厚度确定方法为X射线小角反射谱线法,根据谱线中反射峰位的位置,使用修正的布拉格方程进行二元线性回归求解,精确确定薄膜的厚度;3)光谱特性测试:在要求解的波段范围内,0到小于90度的任意角度入射的透过率谱线和0到小于90度的任意角度入射的反射率谱线各一条;4)光学常数数值求解:通过如下数值方法从测试光谱提取光学常数:在表征光学常数n‑k的平面上利用光学薄膜光谱特性计算模型,做出透过率为测试值T和反射率为测试值R的等值线;等值线上的点的理论计算透过率T<sub>0</sub>和反射率R<sub>0</sub>满足|T<sub>0</sub>‑T|<ε和|R<sub>0</sub>‑R|<ε,其中ε为精度控制的小量,其取值范围为0.01~0.0001;等值线的交点即为所求的光学常数;所述的修正的布拉格方程形式为sin<sup>2</sup>θ<sub>m</sub>=(λ/2d)<sup>2</sup>m<sup>2</sup>+2δ或其等效的变形式,其中θ<sub>m</sub>为X射线反射峰的角度,m为反射峰的级次,δ为取值范围[‑1,1]的修正小量,λ为X射线的波长,d为薄膜的厚度。 |