发明名称 一种具有定位功能的用于集成电路测试分选机的测试夹具
摘要 本发明涉及一种具有定位功能的用于集成电路测试分选机的测试夹具。测试支座通过三维调整机构连接在测试底座上,压块限位块安装在测试支座的顶部,压块限位块中间开有槽口,测试压块置于压块限位块的槽口内并能上下移动;在测试支座和压块限位块之间安装有两根竖向的导向轴,测试压块上设有两个导孔,测试压块通过其上的导孔与导向轴构成滑动导向配合;压缩弹簧设置在测试支座和测试压块之间,压缩弹簧下端连接测试支座,压缩弹簧上端连接测试压块;测试压块顶部安装测试绝缘块,测试支座前后两侧分别夹紧有一个测试簧片,两个测试簧片前后对称。本发明能自动对集成电路进行位置校正,保证集成电路引脚与测试簧片接触良好,提高测试质量。
申请公布号 CN105717441A 申请公布日期 2016.06.29
申请号 CN201610196039.4 申请日期 2016.03.30
申请人 中科芯集成电路股份有限公司 发明人 张佳佳;张亚军;李丹;张海清
分类号 G01R31/28(2006.01)I 主分类号 G01R31/28(2006.01)I
代理机构 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人 殷红梅;徐永雷
主权项 一种具有定位功能的用于集成电路测试分选机的测试夹具,包括测试底座(1)、测试支座(5)、压块限位块(6)、测试压块(7)、测试绝缘块(8)、压缩弹簧(9)、导向轴(10)和测试簧片(14);所述测试支座(5)通过三维调整机构连接在测试底座(1)上,压块限位块(6)安装在测试支座(5)的顶部,压块限位块(6)中间开有槽口,所述测试压块(7)置于压块限位块(6)的槽口内并能上下移动,压块限位块(6)限制着测试压块(7)向上移动的行程;在测试支座(5)和压块限位块(6)之间安装有两根竖向的导向轴(10),所述测试压块(7)上设有两个导孔,测试压块(7)通过其上的导孔与所述导向轴(10)构成滑动导向配合;压缩弹簧(9)设置在测试支座(5)和测试压块(7)之间,压缩弹簧(9)下端连接测试支座(5),压缩弹簧(9)上端连接测试压块(7),测试压块(7)可沿导向轴(10)在压缩弹簧(9)作用下上下往复移动;所述测试压块(7)顶部安装着用于承托集成电路(16)的测试绝缘块(8),所述测试支座(5)前后两侧分别用簧片固定组件夹紧有一个用于与集成电路(16)引脚接触的测试簧片(14),两个测试簧片(14)前后对称。
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