发明名称 一种MLCC抗弯强度测试装置及系统
摘要 本实用新型提供一种MLCC抗弯强度测试装置及系统,其中MLCC抗弯强度测试装置包括传动机构、升降机构、压块、微变形测试机构和底座,其中升降机构设置于传动机构下方,传动机构带动升降机构上下运动;压块设置于升降机构的底部;微变形测试机构与升降机构相连接,随升降机构作升降运动;传动机构、升降机构、压块和微变形测试机构设置在底座上,且微变形测试机构的感应触头与底座相接触。采用上述MLCC抗弯强度测试装置的测试系统,能够在MLCC微变形的条件下测试MLCC的Cp值和DF值,解决采用一般的抗弯测试仪器(如拉伸万能试验机)无法测试MLCC弯曲度的问题。
申请公布号 CN205352864U 申请公布日期 2016.06.29
申请号 CN201620122150.4 申请日期 2016.02.16
申请人 厦门华信安电子科技有限公司 发明人 程志秋;陈仁忠
分类号 G01N3/20(2006.01)I 主分类号 G01N3/20(2006.01)I
代理机构 北京远大卓悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11369 代理人 李强
主权项 一种MLCC抗弯强度测试装置,包括传动机构(1)、升降机构(2)、压块(3)、微变形测试机构(4)和底座(5),其特征在于:所述升降机构(2)设置于所述传动机构(1)下方,所述传动机构(1)带动所述升降机构(2)上下运动;所述压块(3)设置于所述升降机构(2)的底部;所述微变形测试机构(4)与所述升降机构(2)相连接,随所述升降机构(2)作升降运动;所述传动机构(1)、升降机构(2)、压块(3)和微变形测试机构(4)设置在所述底座(5)上,且所述微变形测试机构(4)的感应触头(40)与所述底座(5)相接触。
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