使用基于细胞的免疫荧光法使用合成校正粒子自动测定免疫荧光灶点的方法和系统

摘要

本发明涉及一种通过使用合成校正粒子的免疫荧光法自动测定免疫荧光灶点的方法，以及实施该方法的系统和试剂盒。在一个优选实施方案中，该方法特征在于免疫荧光灶点是γH2Ax灶点。

主权项

用免疫荧光法自动测定细胞免疫荧光灶点的方法，包括：a.提供待分析的细胞和合成校正粒子的混合物，该细胞和粒子被固定至固相，其中，所述合成校正粒子是具有1‑100μm之间的直径的微粒，并且使用荧光标记特异性标记所述合成校正粒子，b.检测合成校正粒子，随后基于所述合成校正粒子的检测将荧光显微装置和自动化评价系统校正并对焦，c.将所述混合物与一种或多种结合至细胞的靶底物上的抗体温育，d.通过所述荧光显微装置检测与所述底物结合的抗体，以及e.使用所述自动化评价系统由所述荧光显微装置产生的图像数据测定免疫荧光灶点。