发明名称 |
一种高精度激光测距装置与测量方法 |
摘要 |
本发明公开了一种高精度激光测距装置以及测量方法,包括由左至右依次设置的激光器、光纤隔离器、光纤光分束器、光纤偏振光分束器、偏振调制器、方波扫频信号源、光纤耦合器和反射镜。本发明提供的基于光纤光路波导调制的测距装置以及测量方法,解决了传统相位测距法中鉴相精度低导致的测距精度难以提高的问题,同时也解决了空间光偏振调制测距中光路复杂、调制带宽较小、测距范围受限的问题。本发明简化了测量装置,提高了测量精度和测量系统的稳定度。 |
申请公布号 |
CN105699980A |
申请公布日期 |
2016.06.22 |
申请号 |
CN201610221712.5 |
申请日期 |
2016.04.11 |
申请人 |
中国科学院光电研究院 |
发明人 |
纪荣祎;高书苑;周维虎;董登峰;劳达宝;张滋黎;袁江;石俊凯;刘鑫;王国名;王岩庆;程智 |
分类号 |
G01S17/08(2006.01)I;G01S7/481(2006.01)I |
主分类号 |
G01S17/08(2006.01)I |
代理机构 |
北京风雅颂专利代理有限公司 11403 |
代理人 |
王安娜;李翔 |
主权项 |
一种高精度激光测距装置,其特征在于,包括由左至右依次设置的激光器、光纤隔离器、光纤光分束器、光纤偏振光分束器、偏振调制器、方波扫频信号源、光纤耦合器和反射镜。 |
地址 |
100094 北京市海淀区邓庄南路9号 |