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一种用于测试漏电断路器的改进型检测设备，包括交流电源电路、直流供电电路、相位产生电路、交流漏电调节电路、相位显示电路、指示灯电路和时间检测电路；其特征在于：交流电源电路具有用于构成负载回路的第一火线端和用于构成模拟漏电回路的第二火线端，第一火线端和第二火线端用于与被测设备的火线输入端相连，所述负载回路的零线端用于与被测设备的零线端相连；所述被测设备是A型漏电断路器；相位产生电路用于与被测设备的火线输出端L2相连；相位产生电路包括控制按钮电路，控制按钮电路用于控制相位产生电路在所述模拟漏电回路中分别生成电流滞后电压0º的半波整流电流、电流滞后电压90º的半波整流电流、电流滞后电压135º的半波整流电流和含有6mA直流的电流滞后电压0º的半波整流电流；交流漏电调节电路用于控制所述模拟漏电回路的电流大小；时间检测电路用于测量从所述模拟漏电回路导通至A型漏电断路器脱扣所需的时间，即动作时间；所述相位产生电路包括：电流滞后电压0º的第一半波整流电路、电流滞后电压90º的第二半波整流电路、电流滞后电压135º的第三半波整流电路、6mA直流生成电路以及可控硅电流控制电路，可控硅电流控制电路用于根据所述第一半波整流电路、第二半波整流电路和第三半波整流电路输出的控制信号在所述模拟漏电回路中分别生成电流滞后电压0º的半波整流电流、电流滞后电压90º的半波整流电流、电流滞后电压135º的半波整流电流和含有6mA直流的电流滞后电压0º的半波整流电流；所述电流滞后电压135º的第三半波整流电路包括：由变压器T2、二极管D5、电阻R3、R4、R5、R6、R7和运算放大器IC1A构成的正弦波整形成电路，与运算放大器IC1A的输出端相连的由电阻R8、电容C5构成的充电电路，由二极管D6、D7构成的与门；用来设定相对于电流滞后电压135º的整定电压的电阻R9和R10，用来调节运算放大器IC1B的反向端的相对于电流滞后电压135º的比较电压的电阻R11和电位器WR1，运算放大器IC1B的输出端用于输出电流滞后电压135º的控制信号；电阻R12是三极管BG3基极的限流电阻，三极管BG3与电阻R13构成射极跟随器，电阻R13上的电流滞后电压135º的控制信号通过按钮开关SB1、电阻R58送给三极管BG18，三极管BG18驱动光耦芯片IC4，电阻R59是限流电阻，保证光耦芯片IC4有效工作；光耦芯片IC4用以隔离交流220V与相位产生电路直流部分，控制双向可控硅BG19的导通和关断，电阻R60、R61用于控制双向可控硅BG19的G极输入电流，使输入信号足够触发双向可控硅BG19导通；双向可控硅BG19的A、K二极串联在负载与交流电源之间，流过负载的电流就是滞后于电压135º的半波整流电流；控制双向可控硅BG19即可控制线路中通过规定的剩余脉动电流，调节电位器WR3、WR4、WR5即可控制漏电流大小；当按钮开关SB10闭合时，按钮开关SB10的两个中间触点用于相位产生电路输出波形的检测；所述可控硅电流控制电路包括：根据所述第一半波整流电路、第二半波整流电路和第三半波整流电路输出的控制信号而导通的三极管BG18、由三极管BG18驱动的光耦芯片IC4，由光耦芯片IC4控制通断的双向可控硅BG19，双向可控硅BG19的A、K极串联在所述模拟漏电回路中；所述时间检测电路包括：单片机IC6、与单片机IC6的漏电检测端相连的用于检测所述模拟漏电回路是否导通的漏电信号检测电路以及与单片机IC6的时间信息输出端相连的用于显示时间的数码管；单片机IC6根据漏电信号检测电路输出的漏电信号测量从所述模拟漏电回路导通至A型漏电断路器脱扣所需的时间并通过所述数码管显示该时间；所述6mA直流生成电路由电阻R67、9V干电池Bt、按钮开关SB5、SB6组成；电阻R67的一端与9V干电池U的正极相连，电阻R67的另一端与按钮开关SB5的中间触点相连，按钮开关SB5的常开触点与按钮开关SB6的常开触点、常闭触点相连，9V干电池负极接按钮开关SB6的常开触点，按钮开关SB6的中间触点与直流输出接线柱“＋”相连，按钮开关SB6的中间触点SB6‑21与直流输出“－”相连；时间检测电路由按钮开关、整流二极管D46‑49、三极管BG23‑26、电阻、电容C15、光电耦合器IC5、单片机IC6、数码管LED11等组成；当按钮开关SB17闭合时，断路器通电，直流电流经微分电路形成一个尖脉冲，输入单片机IC6的1脚，单片机IC6开始计时；当断路器跳闸时，光耦芯片IC5失电，其4、6脚关断，单片机IC6的3脚有高电平输入，单片机IC6停止计时并输出数据到数码管LED11显示；当按钮开关SB18按下时，单片机IC6、数码管LED11清零。 |
