发明名称 |
一种碳化硅晶片的抛光液 |
摘要 |
本发明一种碳化硅晶片的抛光液,其中各组分所占重量百分比为:二氧化硅抛光液10-30%,粒径为50-100nm;纳米级金刚石研磨液0.1-10%,粒径为50-200nm;辅助氧化剂3-20%;pH调节剂0.5-10%;去离子水为余量;混合后的所述碳化硅晶片的抛光液pH值范围为7-9。适用于对SiC晶片进行化学机械抛光。该抛光液的特点是去除速率快(可在1-3小时内完成)、加工出的碳化硅晶片较光亮,表面强光灯观测无明显划痕且平整、均匀,表面粗糙度经原子力显微镜检测可稳定达到<0.3nm。 |
申请公布号 |
CN105647393A |
申请公布日期 |
2016.06.08 |
申请号 |
CN201610071883.4 |
申请日期 |
2016.02.02 |
申请人 |
北京华进创威电子有限公司 |
发明人 |
詹琳 |
分类号 |
C09G1/02(2006.01)I |
主分类号 |
C09G1/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京中创阳光知识产权代理有限责任公司 11003 |
代理人 |
尹振启 |
主权项 |
一种碳化硅晶片的抛光液,其特征在于,其中各组分所占重量百分比为:二氧化硅抛光液10‑30%,粒径为50‑100nm;纳米级金刚石研磨液0.1‑10%,粒径为50‑200nm;辅助氧化剂3‑20%;pH调节剂0.5‑10%;去离子水为余量;混合后的所述碳化硅晶片的抛光液pH值范围为7‑9。 |
地址 |
101111 北京市大兴区经济技术开发区通惠干渠路17号院 |