发明名称 质量分析器和质量分析方法
摘要 一种用于质量分析的静电离子阱包括第一电极阵列和与第一电极阵列分隔开的第二电极阵列。第一和第二电极阵列可以是由平行的带状电极或者由同心的圆形或部分圆形的导电环形成的平面阵列。这些阵列的电极被提供有基本相同的电压模式,由此阵列之间的空间内电位的分布如此以至于在飞行方向等时地反射离子,使得它们在所述空间内经受基本聚焦在阵列之间的中间位置的周期振荡运动。放大器电路用于检测像电流,所述像电流具有与经受周期振荡运动的离子的质荷比有关的频率分量。
申请公布号 CN103493173B 申请公布日期 2016.06.08
申请号 CN201180070450.2 申请日期 2011.09.28
申请人 株式会社岛津制作所 发明人 L.丁;M.苏达科夫;S.库马希罗
分类号 H01J49/42(2006.01)I;H01J49/02(2006.01)I 主分类号 H01J49/42(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 王岳;胡莉莉
主权项 一种用于质量分析的静电离子阱,包括:第一电极阵列和与第一电极阵列分隔开的第二电极阵列,在使用中向第一和第二电极阵列的电极提供电压以在所述电极阵列之间的空间内产生静电场,其中,在使用中,第一电极阵列的电极和第二电极阵列的电极被提供有相同的电压模式,由此所述空间内电位的分布使得在飞行方向上等时地反射离子,以引起它们在所述空间内产生聚焦在所述第一和第二电极阵列之间的中间位置的周期振荡运动,并且其中,所述第一电极阵列和第二电极阵列中的至少一个电极连接到放大器电路,用于检测像电流,所述像电流具有与在第一和第二电极阵列之间的所述空间内产生所述周期振荡运动的离子的质荷比有关的频率分量,其中所述第一电极阵列和第二电极阵列的每个电极阵列均包括同心的圆形或部分圆形的导电环,并且还包括围绕所述导电环延伸的完全或部分环形的离子阱注入器或完全或部分环形的离子导向注入器,分别用于临时存储离子或对离子导向,并随后使所述离子脉动进入第一电极阵列和第二电极阵列之间的所述空间中。
地址 日本京都市