发明名称 可注射高分子聚合物测量表面开口缺陷深度的方法及其装置
摘要 可注射高分子聚合物测量表面开口缺陷深度的方法,包含三个步骤,1、采用便携式仪器通过分别注射高分子单体、引发剂、交联剂和促进剂进入表面开口缺陷中;2、所述单体发生聚合反应,生成具有一定弹性和强度的体型高分子聚合物;3、从开口缺陷表面采取卷曲提拉措施从外部将其整个聚合物抽取出来并间接准确测量表面开口缺陷的深度。本发明的有益结果:设计了可注射高分子聚合物测量表面开口裂纹深度的技术。可以使得无损检测人员在进行现场表面开口缺陷(如裂纹)探伤时可准确地在现场测量出表面开口缺陷(如裂纹)的深度,这对工程上描述表面开口缺陷的三维尺寸、改进材质配方、制定缺陷处理检修计划、丰富无损检测技术的内涵具有重要意义。
申请公布号 CN105651233A 申请公布日期 2016.06.08
申请号 CN201610217407.9 申请日期 2016.04.08
申请人 云南电力试验研究院(集团)有限公司 发明人 罗传旭;吴章勤;艾川;闵捷;孙成刚
分类号 G01B21/18(2006.01)I 主分类号 G01B21/18(2006.01)I
代理机构 昆明大百科专利事务所 53106 代理人 何健
主权项 可注射高分子聚合物测量表面开口缺陷深度的方法,其特征是:包含三个步骤,第一步,采用便携式仪器通过分别注射高分子单体、引发剂、交联剂和促进剂进入表面开口缺陷中;第二步,所述单体发生聚合反应,生成具有一定弹性和强度的体型高分子聚合物;第三步,从开口缺陷表面采取卷曲提拉措施从外部将其整个聚合物抽取出来;即可通过测量高分子聚合物的纵向长度来间接准确测量表面开口缺陷的深度。
地址 650217 云南省昆明市经开区云大西路105号云电科技园二期