| 发明名称 | 一种可见光目标轮廓模型指导的飞机感兴趣区测谱方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种可见光目标轮廓模型指导的飞机感兴趣区测谱方法，包括：(1)建立典型飞机目标轮廓姿态数据库；(2)对实测飞机目标可见光图像进行测谱，包括：(2.1)获取飞机目标的可见光图像；(2.2)获得目标轮廓特征；(2.3)用目标轮廓匹配步骤(1)中建立的轮廓姿态数据库，得到飞机的对应姿态，以及在此种姿态下的部件对应几何关系；(2.4)根据轮廓与各个部件之间的相互关系，寻找目标各部件测谱的中心位置坐标；(2.5)把测谱中心点移到感兴趣部件；控制测谱设备对相关部件区域作扫描，测量相关部件光谱。本发明方法检测模型能方便的使用部分匹配技术，即使在目标被部分遮挡的情况下仍能找到未被遮挡的特征块，可以提高检测鲁棒性。 | ||
| 申请公布号 | CN105631431A | 申请公布日期 | 2016.06.01 |
| 申请号 | CN201511027643.6 | 申请日期 | 2015.12.31 |
| 申请人 | 华中科技大学 | 发明人 | 张天序;喻洪涛;药珩;黄伟;姚守悝;王凤林;李正涛 |
| 分类号 | G06K9/00(2006.01)I;G06K9/32(2006.01)I;G06K9/46(2006.01)I;G06K9/60(2006.01)I;G06K9/62(2006.01)I | 主分类号 | G06K9/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人 | 曹葆青 |
| 主权项 | 一种可见光目标轮廓模型指导的飞机感兴趣区测谱方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：(1)建立典型飞机目标轮廓姿态数据库；(2)对实测飞机目标可见光图像进行测谱，包括如下子步骤：(2.1)获取飞机目标的可见光图像；(2.2)对可见光图像进行图像分割、去噪和提取边缘，获得目标轮廓特征；(2.3)用目标轮廓匹配步骤(1)中建立的轮廓姿态数据库，得到飞机的对应姿态，以及在此种姿态下的部件对应几何关系；(2.4)根据轮廓与各个部件之间的相互关系，寻找目标各部件测谱的中心位置坐标。(2.5)把测谱中心点移到感兴趣部件；控制测谱设备对相关部件区域作扫描，测量相关部件光谱。 | ||
| 地址 | 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号 | ||