发明名称 |
测量系统 |
摘要 |
本发明公开了一种测量系统,包括:暗室,所述暗室包括:屏蔽箱体;吸波材料层,所述吸波材料层设在所述屏蔽箱体的内壁上;和多个测量天线,多个所述测量天线设在所述屏蔽箱体的内壁上且适于与所述屏蔽箱体外面的电缆相连;托具,所述托具设在所述屏蔽箱体内用于承载被测件;以及测量仪器,所述测量仪器设在所述屏蔽箱体外面且通过电缆与所述测量天线相连。根据本发明实施例的测量系统具有制造成本低、占用空间小、极大地提高测量的精度和一致性等优点且暗室可以小型化。 |
申请公布号 |
CN103812586B |
申请公布日期 |
2016.06.01 |
申请号 |
CN201210479111.6 |
申请日期 |
2012.11.22 |
申请人 |
深圳市通用测试系统有限公司 |
发明人 |
刘克峰;漆一宏;谢乔治;谢辉 |
分类号 |
H04B17/00(2015.01)I |
主分类号 |
H04B17/00(2015.01)I |
代理机构 |
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 |
代理人 |
宋合成;黄德海 |
主权项 |
一种测量系统,其特征在于,包括:暗室,所述暗室包括:屏蔽箱体,所述屏蔽箱体限定有纵轴线;吸波材料层,所述吸波材料层设在所述屏蔽箱体的内壁上,所述吸波材料层的内表面为齿状面;和多个测量天线,多个所述测量天线设在所述屏蔽箱体的内壁上且适于与所述屏蔽箱体外面的电缆相连,所述多个测量天线中的任意两个在所述屏蔽箱体的径向上彼此错开,所述多个测量天线布置在与所述屏蔽箱体的纵轴线正交的同一平面内,所述多个测量天线的第一端安装在所述屏蔽箱体的内壁上且位于以所述屏蔽箱体的纵向中心线为圆心的同一圆周上,所述多个测量天线的第二端位于以所述屏蔽箱体的纵向中心线为圆心的同一圆周上,且所述多个测量天线中的任意两个测量天线的轴向彼此相交;托具,所述托具设在所述屏蔽箱体内用于承载被测件;以及测量仪器,所述测量仪器设在所述屏蔽箱体外面且通过电缆与所述测量天线相连。 |
地址 |
518102 广东省深圳市宝安区西乡街道桃花源科技创新园A栋孵化楼101-106 |