发明名称 PROFILE AWARE SOURCE-MASK OPTIMIZATION
摘要 조명 소스 및 투영 광학 기기를 갖는 리소그래피 투영 장치를 이용하여 설계 레이아웃의 일부를 기판 상으로 이미징하기 위한 리소그래피 공정을 개선하기 위하여 컴퓨터로 구현되는 방법은, 상기 리소그래피 공정의 특성인 복수의 설계 변수의 다중-변수 비용 함수를 계산하는 단계로서, 상기 설계 변수의 적어도 일부는 상기 조명 소스 및 상기 설계 레이아웃의 특성이고, 상기 다중-변수 비용 함수는 상기 기판 상의 3차원 레지스트 프로파일의 함수이거나 상기 투영 광학 기기로부터 투영된 3차원 방사선 필드, 또는 이들 양자 모두인, 계산하는 단계; 및 미리 정의된 종료 조건이 만족될 때까지 상기 설계 변수를 조절함으로써 상기 리소그래피 공정의 특성을 재구성하는 단계를 포함한다.
申请公布号 KR20160062141(A) 申请公布日期 2016.06.01
申请号 KR20167011217 申请日期 2014.09.11
申请人 ASML NETHERLANDS B.V. 发明人 HSU DUAN FU STEPHEN;HOWELL RAFAEL C.;LIU FENG LIANG
分类号 G03F7/20;H01L21/027 主分类号 G03F7/20
代理机构 代理人
主权项
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