发明名称 |
光刻胶填充深孔的方法 |
摘要 |
本发明公开了深孔光刻胶填充方法,一种利用真空处理的方法,另一种深孔光刻胶填充方法,利用光刻胶溶剂进行浸润,本发明通过两次旋涂的方式,并且在第一次旋涂后,不经过软烘,可选择性的利用光刻胶溶剂进行润湿,使得光刻胶得以稀释,更有利于气泡的逃逸,然后将晶圆放置在真空设备中,使得TSV内部的气泡逃逸,一次旋涂可以对TSV侧壁部分浸润,有利于二次旋涂时孔的填充,之后进行第二次的旋涂,得到无孔填充。 |
申请公布号 |
CN103560108B |
申请公布日期 |
2016.06.01 |
申请号 |
CN201310462699.9 |
申请日期 |
2013.10.08 |
申请人 |
华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 |
发明人 |
李昭强;于大全;戴风伟;徐成 |
分类号 |
H01L21/768(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/768(2006.01)I |
代理机构 |
上海海颂知识产权代理事务所(普通合伙) 31258 |
代理人 |
任益 |
主权项 |
一种深孔光刻胶填充方法,包括以下步骤:完成TSV的电镀填孔,实现金属互连;第一次旋涂工艺,使得光刻胶部分进入TSV;将旋涂后的晶圆放置到真空设备中,并抽真空,使得TSV孔内部残留的气体排出;对晶圆进行预烘烤,使得第一次涂覆的光刻胶固化;进行第二次旋涂工艺,使得光刻胶进行填充;进行第二次真空处理,使得TSV孔内部残留的气体排出;进行第二次预烘烤工艺,使得涂覆的光刻胶固化,从而使得TSV孔完全填充。 |
地址 |
214135 江苏省无锡市菱湖大道200号中国传感网国际创新园D1栋 |