发明名称 |
一种照度计 |
摘要 |
本发明公开了一种照度计,主要是利用光子计数技术,采用硅光电倍增管作为光电探测器,结合中性密度衰减片组对光的衰减来实现其宽照度量测范围。本发明不仅可以对微弱光照度进行测量,而且可以方便地应用于普通光照度测量领域。基于硅光电倍增管工作电压低、结构紧凑、可靠性高、探测效率高、灵敏度高、对磁场不敏感等诸多优势,本发明还具有体积小、易携带、可靠性高、灵敏度高、响应时间快等优点,在光照度测量领域具有广泛的应用前景。 |
申请公布号 |
CN105628197A |
申请公布日期 |
2016.06.01 |
申请号 |
CN201511000274.1 |
申请日期 |
2015.12.26 |
申请人 |
武汉京邦科技有限公司 |
发明人 |
徐青;徐浩;王麟;谢庆国 |
分类号 |
G01J1/42(2006.01)I |
主分类号 |
G01J1/42(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种照度计,包括基于硅光电倍增管的光学探头、光子计数系统、数据处理系统、显示系统和电源系统;其特征在于,所述基于硅光电倍增管的光学探头由余弦校正片、中性密度衰减片组、V(λ)视觉函数校正片、硅光电倍增管及光学探头壳体构成;所述余弦校正片、中性密度衰减片组、V(λ)视觉函数校正片、硅光电倍增管依次置于光学探头壳体中;所述光学探头壳体上设有通光孔,所述通光孔的中心与余弦校正片、中性密度衰减片组、V(λ)视觉函数校正片、硅光电倍增管的光敏面的中心均位于同一轴线上;所述通光孔与所述余弦校正片、中性密度衰减片组、V(λ)视觉函数校正片一起构成照度计的光路系统;在进行光照度测量时,待测光源发出的光经所述光路系统后照射在硅光电倍增管的光敏面上,并充满硅光电倍增管的整个光敏面区域;所述中性密度衰减片组包含至少一片中性密度衰减片,所述中性密度衰减片对不同波长的可见光均按同一衰减系数衰减;所述硅光电倍增管位于光学探头壳体中远离通光孔的一侧,其输出端通过通信引线引出光学探头壳体;所述光子计数系统经所述通信引线与硅光电倍增管输出端连接,以用于在测量时间内的各采样周期中对入射到硅光电倍增管光敏面上的光子数目进行计数;所述数据处理系统与所述光子计数系统通信连接,以用于将光子计数系统在单个采样周期中所统计的光子数目与相应测量的光源的光照度值进行换算;所述显示系统与所述数据处理系统通信连接,以用于将数据处理系统获得的光照度数值进行显示;所述电源系统分别与所述硅光电倍增管、光子计数系统、数据处理系统、显示系统通信连接,以用于为硅光电倍增管、光子计数系统、数据处理系统、显示系统提供供电。 |
地址 |
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