| 摘要 |
La présente invention concerne un procédé de caractérisation en trois dimensions d'un objet (5), comprenant : - une acquisition de données de distances sur deux plans de mesure (81, 82) distincts, par au moins trois capteurs interférométriques de distance (71, 72) par plan de mesure et pour plusieurs valeurs de rotation de l'objet autour d'un axe de rotation (4) ; et pour chaque plan de mesure, une obtention de données représentatives d'une ligne de contour (14) de l'objet à partir des données de distances ; - pour un des plans de mesure, une acquisition, par un capteur d'image (151), d'une image tridimensionnelle d'une face de l'objet (5) et une réitération de cette acquisition d'image pour plusieurs valeurs de rotation de l'objet (5) autour de son axe de rotation (4) ; et un assemblage de différentes images tridimensionnelles acquises pour ce plan de mesure (81), de manière à obtenir des données tridimensionnelles d'une surface de contour de l'objet, l'assemblage comprenant une définition de positions relatives des différentes images au moyen des données représentatives de la ligne de contour (14) contenue dans ce plan de mesure (81). |
