集成电路

摘要

本发明公开了一种集成电路，包括：正常数据储存单元，被配置为在正常操作模式中响应于写入命令、读取命令和地址信号来储存正常数据和输出所储存的正常数据；测试数据储存单元，被配置为在测试操作模式中响应于写入命令来将地址信号储存作为测试数据，并响应于读取命令来输出所储存的测试数据；以及连接选择单元，被配置为基于集成电路是处于正常操作模式和测试操作模式中的第一者还是第二者，来选择性地分别将正常数据储存单元的数据输入/输出端子或测试数据储存单元的数据输出端子连接至全局线。

主权项

一种集成电路，包括：正常数据储存单元，所述正常数据储存单元被配置为在正常操作模式中响应于写入命令、读取命令和地址信号来储存正常数据和输出所储存的正常数据；测试数据储存单元，所述测试数据储存单元被配置为在测试操作模式中响应于所述写入命令来将经由地址输入线输入的所述地址信号储存作为测试数据，并响应于所述读取命令来输出所储存的所述测试数据；以及连接选择单元，所述连接选择单元被配置为基于所述集成电路是处于所述正常操作模式还是处于所述测试操作模式，来选择性地将所述正常数据储存单元的数据输入/输出端子或所述测试数据储存单元的数据输出端子连接至全局线。