绝缘子表面污秽粒径分布的检测方法

摘要

本发明公开了一种绝缘子表面污秽粒径分布的检测方法，包括以下步骤：判断待检的绝缘子表面的污秽量，当判断绝缘子表面的污秽量不低于预定量时，利用激光粒度仪对绝缘子表面污秽的粒径分布进行测量，当判断绝缘子表面的污秽量低于预定量时，利用电子显微镜拍摄绝缘子表面的图像，分析所述图像以对绝缘子表面污秽的粒径分布进行统计，测出绝缘子表面污秽的粒径分布。本发明弥补了现有激光粒度仪测量方法的不足，能够对污秽等级较低、积污期较短等地区的绝缘子表面污秽粒径分布进行测量和分析。

主权项

一种绝缘子表面污秽粒径分布的检测方法，其特征在于,包括以下步骤：S1、判断待检的绝缘子表面的污秽量，当判断绝缘子表面的污秽量不低于预定量时，进入步骤S2，当判断绝缘子表面的污秽量低于预定量时，进入步骤S3；S2、利用激光粒度仪对绝缘子表面污秽的粒径分布进行测量；S3、利用电子显微镜拍摄绝缘子表面的图像，分析所述图像以对绝缘子表面污秽的粒径分布进行统计，测出绝缘子表面污秽的粒径分布。