主权项 |
一种X射线荧光分析的α系数测定方法,其特征在于,包括:选取标准样品S,该标准样品中至少含有成份P与成份Q;向(1‑y<sub>p</sub>)质量份的标准样品S中加入y<sub>p</sub>质量份的成份P的基准试剂,制备n个P系列标准样品,n大于等于3,将上述P系列标准样品制备成玻璃熔片后,分别进行X射线荧光强度测量;得到各P系列标准样品中成份P的射线荧光强度,分别为I<sub>pp1</sub>、I<sub>pp2</sub>、…、I<sub>ppn</sub>,所述各P系列标准样品中:加入的成份P的质量份为y<sub>pp1</sub>、y<sub>pp2</sub>、…、y<sub>ppn</sub>,成份P的质量分数为C<sub>pp1</sub>、C<sub>pp2</sub>、…、C<sub>ppn</sub>;令,<maths num="0001"><math><![CDATA[<mrow><mtable><mtr><mtd><mrow><mi>C</mi><mo>=</mo><mfenced open = "[" close = "]"><mtable><mtr><mtd><msub><mi>C</mi><mrow><mi>p</mi><mi>p</mi><mn>1</mn></mrow></msub></mtd></mtr><mtr><mtd><msub><mi>C</mi><mrow><mi>p</mi><mi>p</mi><mi>2</mi></mrow></msub></mtd></mtr><mtr><mtd><mo>·</mo></mtd></mtr><mtr><mtd><mo>·</mo></mtd></mtr><mtr><mtd><mo>·</mo></mtd></mtr><mtr><mtd><msub><mi>C</mi><mrow><mi>p</mi><mi>p</mi><mi>n</mi></mrow></msub></mtd></mtr></mtable></mfenced><mo>,</mo></mrow></mtd><mtd><mrow><mi>K</mi><mo>=</mo><mfenced open = "[" close = "]"><mtable><mtr><mtd><mrow><mi>K</mi><mn>1</mn></mrow></mtd></mtr><mtr><mtd><mrow><mi>K</mi><mn>2</mn></mrow></mtd></mtr></mtable></mfenced><mo>,</mo></mrow></mtd><mtd><mrow><mi>X</mi><mo>=</mo><mfenced open = "[" close = "]"><mtable><mtr><mtd><msub><mi>I</mi><mrow><mi>p</mi><mi>p</mi><mn>1</mn></mrow></msub></mtd><mtd><mrow><msub><mi>y</mi><mrow><mi>p</mi><mi>p</mi><mn>1</mn></mrow></msub><mo>*</mo><msub><mi>I</mi><mrow><mi>p</mi><mi>p</mi><mn>1</mn></mrow></msub></mrow></mtd></mtr><mtr><mtd><msub><mi>I</mi><mrow><mi>p</mi><mi>p</mi><mi>2</mi></mrow></msub></mtd><mtd><mrow><msub><mi>y</mi><mrow><mi>p</mi><mi>p</mi><mn>2</mn></mrow></msub><mo>*</mo><msub><mi>I</mi><mrow><mi>p</mi><mi>p</mi><mn>2</mn></mrow></msub></mrow></mtd></mtr><mtr><mtd><mo>·</mo></mtd><mtd><mo>·</mo></mtd></mtr><mtr><mtd><mo>·</mo></mtd><mtd><mo>·</mo></mtd></mtr><mtr><mtd><mo>·</mo></mtd><mtd><mo>·</mo></mtd></mtr><mtr><mtd><msub><mi>I</mi><mrow><mi>p</mi><mi>p</mi><mi>n</mi></mrow></msub></mtd><mtd><mrow><msub><mi>y</mi><mrow><mi>p</mi><mi>p</mi><mi>n</mi></mrow></msub><mo>*</mo><msub><mi>I</mi><mrow><mi>p</mi><mi>p</mi><mi>n</mi></mrow></msub></mrow></mtd></mtr></mtable></mfenced></mrow></mtd></mtr></mtable><mo>,</mo></mrow>]]></math><img file="FDA0000867880180000011.GIF" wi="1324" he="614" /></maths>通过公式K=(X<sup>T</sup>X)<sup>‑1</sup>X<sup>T</sup>C,计算得到K1和K2;向质量份为(1‑y<sub>q</sub>)的标准样品S中加入质量份为y<sub>q</sub>的成份Q的基准试剂,制备m个Q系列标准样品,m大于等于3,将上述Q系列标准样品制备成玻璃熔片后,分别进行X射线荧光强度测量;得到各Q系列标准样品中成份P的射线荧光强度,分别为I<sub>pq1</sub>、I<sub>pq2</sub>、…、I<sub>pqm</sub>,所述各Q系列标准样品中:加入的成份Q的质量份为y<sub>pq1</sub>、y<sub>pq2</sub>、…、y<sub>pqm</sub>,成份P的质量分数为C<sub>pq1</sub>、C<sub>pq2</sub>、…、C<sub>pqm</sub>;令,<maths num="0002"><math><![CDATA[<mrow><mtable><mtr><mtd><mrow><msup><mi>C</mi><mo>,</mo></msup><mo>=</mo><mfenced open = "[" close = "]"><mtable><mtr><mtd><msub><mi>C</mi><mrow><mi>p</mi><mi>q</mi><mn>1</mn></mrow></msub></mtd></mtr><mtr><mtd><msub><mi>C</mi><mrow><mi>p</mi><mi>q</mi><mi>2</mi></mrow></msub></mtd></mtr><mtr><mtd><mo>·</mo></mtd></mtr><mtr><mtd><mo>·</mo></mtd></mtr><mtr><mtd><mo>·</mo></mtd></mtr><mtr><mtd><msub><mi>C</mi><mrow><mi>p</mi><mi>q</mi><mi>m</mi></mrow></msub></mtd></mtr></mtable></mfenced><mo>,</mo></mrow></mtd><mtd><mrow><msup><mi>K</mi><mo>,</mo></msup><mo>=</mo><mfenced open = "[" close = "]"><mtable><mtr><mtd><mrow><mi>K</mi><mn>3</mn></mrow></mtd></mtr><mtr><mtd><mrow><mi>K</mi><mn>4</mn></mrow></mtd></mtr></mtable></mfenced><mo>,</mo></mrow></mtd><mtd><mrow><msup><mi>X</mi><mo>,</mo></msup><mo>=</mo><mfenced open = "[" close = "]"><mtable><mtr><mtd><msub><mi>I</mi><mrow><mi>p</mi><mi>q</mi><mn>1</mn></mrow></msub></mtd><mtd><mrow><msub><mi>y</mi><mrow><mi>p</mi><mi>q</mi><mn>1</mn></mrow></msub><mo>*</mo><msub><mi>I</mi><mrow><mi>p</mi><mi>q</mi><mn>1</mn></mrow></msub></mrow></mtd></mtr><mtr><mtd><msub><mi>I</mi><mrow><mi>p</mi><mi>q</mi><mi>2</mi></mrow></msub></mtd><mtd><mrow><msub><mi>y</mi><mrow><mi>p</mi><mi>q</mi><mn>2</mn></mrow></msub><mo>*</mo><msub><mi>I</mi><mrow><mi>p</mi><mi>q</mi><mn>2</mn></mrow></msub></mrow></mtd></mtr><mtr><mtd><mo>·</mo></mtd><mtd><mo>·</mo></mtd></mtr><mtr><mtd><mo>·</mo></mtd><mtd><mo>·</mo></mtd></mtr><mtr><mtd><mo>·</mo></mtd><mtd><mo>·</mo></mtd></mtr><mtr><mtd><msub><mi>I</mi><mrow><mi>p</mi><mi>q</mi><mi>m</mi></mrow></msub></mtd><mtd><mrow><msub><mi>y</mi><mrow><mi>p</mi><mi>q</mi><mi>m</mi></mrow></msub><mo>*</mo><msub><mi>I</mi><mrow><mi>p</mi><mi>q</mi><mi>m</mi></mrow></msub></mrow></mtd></mtr></mtable></mfenced></mrow></mtd></mtr></mtable><mo>,</mo></mrow>]]></math><img file="FDA0000867880180000012.GIF" wi="1388" he="606" /></maths>通过公式K’=(X’<sup>T</sup>X’)<sup>‑1</sup>X’<sup>T</sup>C’,计算得到K3和K4;则X射线荧光分析中成份Q对成份P的α系数α<sub>p,q</sub>由下述公式计算得到:α<sub>p,q</sub>=(K1*K4‑K2*K3)/(K1*K3+K2*K3)。 |