发明名称 半导体元件及其制造方法
摘要 半导体元件包括:具有第一导电型的基底、两堆叠层、具有第二导电型的第一掺杂区、非晶化前植入区以及具有第二导电型的第二掺杂区。两堆叠层位于基底上,其中各堆叠层包括介电层以及导体层。介电层位于基底。导体层位于介电层上。第一掺杂区具有第一掺质,位于各堆叠层之间的基底中。非晶化前植入区位于第一掺杂区中。第二掺杂区具有第二掺质,位于非晶化前植入区中,其中第一导电型与第二导电型不同,且第二掺质的扩散速率大于第一掺质的扩散速率,且第二掺质的热活性高于第一掺质的热活性。
申请公布号 TW201618306 申请公布日期 2016.05.16
申请号 TW103138140 申请日期 2014.11.04
申请人 旺宏电子股份有限公司 发明人 吴冠纬;张耀文;杨怡箴;卢道政
分类号 H01L29/78(2006.01);H01L21/22(2006.01) 主分类号 H01L29/78(2006.01)
代理机构 代理人 叶璟宗
主权项 一种半导体元件,包括: 两堆叠层,位于具有一第一导电型的一基底上,其中各该堆叠层包括: 一介电层,位于该基底上;以及 一导体层,位于该介电层上; 具有一第二导电型的一第一掺杂区,具有一第一掺质,位于各该堆叠层之间的该基底中; 一非晶化前植入区,位于该第一掺杂区中;以及 具有该第二导电型的一第二掺杂区,具有一第二掺质,位于该非晶化前植入区中,其中该第一导电型与该第二导电型不同,且该第二掺质的扩散速率大于该第一掺质的扩散速率,该第二掺质的热活性高于该第一掺质的热活性。
地址 新竹市东区新竹科学工业园区力行路16号