发明名称 |
半导体元件及其制造方法 |
摘要 |
半导体元件包括:具有第一导电型的基底、两堆叠层、具有第二导电型的第一掺杂区、非晶化前植入区以及具有第二导电型的第二掺杂区。两堆叠层位于基底上,其中各堆叠层包括介电层以及导体层。介电层位于基底。导体层位于介电层上。第一掺杂区具有第一掺质,位于各堆叠层之间的基底中。非晶化前植入区位于第一掺杂区中。第二掺杂区具有第二掺质,位于非晶化前植入区中,其中第一导电型与第二导电型不同,且第二掺质的扩散速率大于第一掺质的扩散速率,且第二掺质的热活性高于第一掺质的热活性。 |
申请公布号 |
TW201618306 |
申请公布日期 |
2016.05.16 |
申请号 |
TW103138140 |
申请日期 |
2014.11.04 |
申请人 |
旺宏电子股份有限公司 |
发明人 |
吴冠纬;张耀文;杨怡箴;卢道政 |
分类号 |
H01L29/78(2006.01);H01L21/22(2006.01) |
主分类号 |
H01L29/78(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
叶璟宗 |
主权项 |
一种半导体元件,包括: 两堆叠层,位于具有一第一导电型的一基底上,其中各该堆叠层包括: 一介电层,位于该基底上;以及 一导体层,位于该介电层上; 具有一第二导电型的一第一掺杂区,具有一第一掺质,位于各该堆叠层之间的该基底中; 一非晶化前植入区,位于该第一掺杂区中;以及 具有该第二导电型的一第二掺杂区,具有一第二掺质,位于该非晶化前植入区中,其中该第一导电型与该第二导电型不同,且该第二掺质的扩散速率大于该第一掺质的扩散速率,该第二掺质的热活性高于该第一掺质的热活性。 |
地址 |
新竹市东区新竹科学工业园区力行路16号 |