| 发明名称 | 用于测试设定/保持时间的设备和方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及用于测试设定/保持时间的设备和方法。该方法包括：当测试模式处在禁用状态下时，根据第一输入数据校准芯片外驱动器的输出数据电平；以及当测试模式处在启用状态下时，根据第二输入数据校准多个数据输入单元当中的选择的数据输入单元的设定/保持时间。 | ||
| 申请公布号 | CN103440882B | 申请公布日期 | 2016.05.11 |
| 申请号 | CN201310280870.4 | 申请日期 | 2009.04.16 |
| 申请人 | 海力士半导体有限公司 | 发明人 | 李政勋 |
| 分类号 | G11C29/02(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人 | 康建峰;吴琼 |
| 主权项 | 一种用于测试设定/保持时间的方法，包括：当测试模式处在禁用状态下时，根据第一预先提取的数据信号校准芯片外驱动器的输出数据电平；以及当测试模式处在启用状态下时，根据第二预先提取的数据信号校准多个数据输入单元当中的选择的数据输入单元的设定/保持时间。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道利川市 | ||