发明名称 使用取样子集的多取样表面处理
摘要 明提供一种用于多取样处理之系统、方法、及电脑程式产品。多取样像素资料会被接收及分析,以找出一多取样像素中具有相同资料的取样子集,使得一子集中之一取样的资料代表该子集中所有取样的多取样像素资料。一编码状态会被产生,其表示该多取样像素中哪些取样被并入该等子集的每一者之中。
申请公布号 TWI533672 申请公布日期 2016.05.11
申请号 TW102142874 申请日期 2013.11.25
申请人 辉达公司 发明人 敏金 亚历山大 列夫;莫尔顿 亨利 派克德;乌拉尔斯基 尤里;林 艾瑞克 布莱恩;柯克蓝 戴尔L;海因里希 史蒂芬 詹姆斯;巴斯托斯 瑞 曼纽尔;基加瑞夫 埃米特M;博尔兹 杰佛瑞 艾伦;伯格蓝德 泰森;布朗恩 派克R
分类号 H04N19/132(2014.01) 主分类号 H04N19/132(2014.01)
代理机构 代理人 蔡滨阳
主权项 一种方法,其包括:接收从用以储存多取样像素资料的一记忆体所读取的多取样像素资料;藉由耦接于该记忆体及一处理单元之间的一分析单元,分析该多取样像素资料,以找出一多取样像素中具有相同资料的取样子集,使得一子集中之一取样的资料代表该子集中所有取样的多取样像素资料;产生一编码状态,其表示该多取样像素中哪些取样被并入该等子集的每一者之中;提供该编码状态及被包括在一第一子集内的仅用于一第一取样的资料至该处理单元;藉由该处理单元,决定该状态编码表示该第一取样并不代表该多取样像素的全部取样;及由多取样像素资料中,要求该多取样像素的一或多个额外取样。
地址 美国