发明名称 多层堆叠扇出型封装及其制备方法
摘要 本发明涉及一种多层堆叠扇出型封装及其制备方法,包括以下步骤:(1)在承载片表面制作第一导电层和金属柱;(2)将第一芯片贴在临时键合薄膜上,覆盖第一绝缘树脂并减薄露出金属柱;(3)在第一绝缘树脂表面制作第二绝缘树脂、第二导电层和第一导电线路;(4)在第一导电线路上面贴装第二芯片,在第二芯片上覆盖第三绝缘树脂,拆除承载片和临时键合薄膜;(5)在第一芯片正面制作第四绝缘树脂、第三导电层和第二导电线路;(6)在第四绝缘树脂表面涂覆第五绝缘树脂,在第二导电线路上形成凸点下金属和金属球,得到所述多层扇出型封装。本发明工艺流程简单,制作工艺和制作成本均降低,得到的多层堆叠扇出型封装结构复杂程度低。
申请公布号 CN105575821A 申请公布日期 2016.05.11
申请号 CN201510970711.6 申请日期 2015.12.22
申请人 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 发明人 陈峰;张文奇;刘海燕
分类号 H01L21/48(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I;H01L23/498(2006.01)I;H01L25/00(2006.01)I 主分类号 H01L21/48(2006.01)I
代理机构 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人 殷红梅;刘海
主权项  一种多层堆叠扇出型封装的制备方法,其特征是,包括以下步骤:(1)承载片(101)作为基底材料,在承载片(101)表面覆盖临时键合薄膜(102);(2)在临时键合薄膜(102)上形成第一导电层(103A),在第一导电层(103A)上涂覆光刻胶(104),通过光刻形成金属柱(105)的开口图形;(3)在金属柱(105)的开口图形处的第一导电层(103A)上形成金属柱(105),去除光刻胶(104)和露出来的第一导电层(103A);(4)将多个第一芯片(106A)的正面贴在临时键合薄膜(102)上,覆盖第一绝缘树脂(107),第一绝缘树脂(107)将第一芯片(106A)和金属柱(105)包裹;将第一绝缘树脂(107)的表面减薄,露出金属柱(105);(5)在第一绝缘树脂(107)和第一芯片(106A)表面涂覆第二绝缘树脂(108),使用光刻工艺在第二绝缘树脂(108)上开窗,露出金属柱(105)的表面;在第二绝缘材料(108)上形成第二导电层(103B);(6)在第二导电层(103B)上形成第一导电线路(109A);(7)去除露出的第二导电层(103B),在第一导电线路(109A)上面贴装多个第二芯片(106B),第二芯片(106B)的电极与第一导电线路(109A)相连;(8)在第二芯片(106B)上覆盖第三绝缘树脂(107a),拆除承载片(101)、临时键合薄膜(102)和第一种子层(103A),露出金属柱(105)和第一芯片(106A)的焊盘(110);(9)在第一芯片(106A)正面涂覆第四绝缘树脂(108a),在第四绝缘树脂(108a)上开窗,露出金属柱(105)和第一芯片(106A)的焊盘(110);再在第四绝缘树脂(108a)表面形成第三导电层(103C),在第三导电层(103C)表面通形成第二导电线路(109B);最后去除露出的第三导电层(103C);(10)在第四绝缘树脂(108a)和第二导电线路(109B)表面涂覆第五绝缘树脂(111),通过光刻工艺露出第二导电线路(109B);在第二导电线路(109B)上形成凸点下金属(112),在凸点下金属层(112)上形成金属球(113),得到所述多层扇出型封装。
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