发明名称 | FinFET鳍片的制作方法 | ||
摘要 | 本申请提供了一种FinFET鳍片的制作方法。该制作方法包括:在绝缘体上硅上设置硬掩膜层;刻蚀硬掩膜层和部分绝缘体上硅,形成相互隔离的条形结构;在条形结构之间的绝缘体上硅上设置氧化层;回蚀部分硬掩膜层,使氧化层的部分侧壁暴露;刻蚀氧化层使暴露出的氧化层侧壁形成缺角;以及回蚀部分氧化层,得到鳍片。氧化层经过刻蚀后在侧壁形成缺角,使靠近条形结构的氧化层的高度低于其余部分氧化层的高度,进而使得靠近条形结构的氧化层的刻蚀时间较短,在其余部分氧化层刻蚀完成时靠近条形结构的氧化层也被刻蚀完全,避免了在鳍片底部附近残留氧化硅,从而避免了footing效应造成的晶体管特性劣化的弊端,进一步降低绝缘体上硅的损伤。 | ||
申请公布号 | CN105575811A | 申请公布日期 | 2016.05.11 |
申请号 | CN201410542130.8 | 申请日期 | 2014.10.14 |
申请人 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 发明人 | 邓浩 |
分类号 | H01L21/336(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/336(2006.01)I |
代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人 | 吴贵明;张永明 |
主权项 | 一种FinFET鳍片的制作方法,其特征在于,所述制作方法包括:在绝缘体上硅上设置硬掩膜层;刻蚀所述硬掩膜层和部分所述绝缘体上硅,形成相互隔离的条形结构;在所述条形结构之间的所述绝缘体上硅上设置氧化层;回蚀部分所述硬掩膜层,使所述氧化层的部分侧壁暴露;刻蚀所述氧化层使所述暴露出的氧化层侧壁形成缺角;以及回蚀部分所述氧化层,得到所述鳍片。 | ||
地址 | 201203 上海市浦东新区张江路18号 |