发明名称 |
预测常规型致密砂岩气藏有利分布发育范围的方法及装置 |
摘要 |
本发明涉及预测常规型致密砂岩气藏有利分布发育范围的方法及装置,该方法包括:确定研究区常规型致密砂岩气藏的主控因素;其中,所述主控因素包括:烃源灶、古隆起、有利沉积相带和区域盖层,且在成藏层位以烃源灶、古隆起、有利沉积相带和区域盖层的顺序自下而上依次出现;确定主控因素的控藏范围;绘制目的层孔隙度平面图;以孔隙度小于12%的区域为力平衡边界进行约束,将常规型致密砂岩气藏的主控因素的控藏范围在所述目的层孔隙度平面图上进行叠合,重叠的区域为常规型致密砂岩气藏最有利的发育范围。本技术方案更客观、更准确的得到了常规型致密砂岩气藏的有利分布发育范围,对常规型致密砂岩气的勘探具有很大的指导意义。 |
申请公布号 |
CN104133040B |
申请公布日期 |
2016.05.04 |
申请号 |
CN201410373632.2 |
申请日期 |
2014.07.31 |
申请人 |
中国石油大学(北京) |
发明人 |
庞雄奇;汪文洋;霍志鹏;庞宏;肖爽 |
分类号 |
G01N33/00(2006.01)I;G01N15/08(2006.01)I |
主分类号 |
G01N33/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京三友知识产权代理有限公司 11127 |
代理人 |
汤在彦 |
主权项 |
一种预测常规型致密砂岩气藏有利分布发育范围的方法,其特征在于,该方法包括:确定研究区常规型致密砂岩气藏的主控因素;其中,所述主控因素包括:烃源灶、古隆起、有利沉积相带和区域盖层,且在成藏层位以烃源灶、古隆起、有利沉积相带和区域盖层的顺序自下而上依次出现;确定主控因素的控藏范围;绘制目的层孔隙度平面图;以孔隙度小于12%的区域为力平衡边界进行约束,将常规型致密砂岩气藏的主控因素的控藏范围在所述目的层孔隙度平面图上进行叠合,重叠的区域为常规型致密砂岩气藏最有利的发育范围;其中,所述确定主控因素的控藏范围的步骤包括:确定烃源灶的控藏范围;确定古隆起的控藏范围;分析储层特征,统计出气藏发育的有利沉积相带,所述有利沉积相带即为气藏的有利成藏范围;确定区域盖层的控藏范围。 |
地址 |
102249 北京市昌平区府学路18号 |