发明名称 光电辐射传感器响应时间测试装置
摘要 本发明涉及光电辐射传感器响应时间测试装置,包括箱体、斩波器和控制器;斩波器设置在箱体内,斩波器用于将恒定光源信号转换为交变入射光源信号;斩波器中的支架安装在箱体上,马达安装在支架上,斩波片固定安装在马达的输出轴上;斩波片内设有均匀分布的透光孔,透光孔位于光耦接收面内,光耦安装在支架上,光耦用于采集斩波片旋转时的交变入射光源信号频率并传输给控制器;箱体内斩波器前方的空间设为检测仓,光电辐射传感器放在检测仓内并置于斩波片下方;控制器安装在检测仓下方,控制器内设置有斩波器驱动与控制电路和高频信号检测电路。本发明填补了光电辐射传感器响应时间测试技术的空白,对传感器研发及测试起到重要的作用。
申请公布号 CN105548854A 申请公布日期 2016.05.04
申请号 CN201510881748.1 申请日期 2015.12.03
申请人 江苏省无线电科学研究所有限公司 发明人 徐毅刚;庞黎;顾平月;朱庆春;王君科;李晖;周琦
分类号 G01R31/26(2014.01)I 主分类号 G01R31/26(2014.01)I
代理机构 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人 殷红梅;徐永雷
主权项 光电辐射传感器响应时间测试装置,其特征在于:包括箱体(1)、斩波器(6)和控制器(5);所述斩波器(6)设置在箱体(1)内,斩波器(6)用于将恒定光源信号转换为交变入射光源信号;所述斩波器(6)包括支架(6.1)、光耦(6.2)、斩波片(6.3)和马达(6.4),所述支架(6.1)安装在箱体(1)上,所述马达(6.4)安装在支架(6.1)上,所述斩波片(6.3)固定安装在马达(6.4)的输出轴上,马达(6.4)启动带动斩波片(6.3)旋转;所述斩波片(6.3)内设有均匀分布的透光孔,所述透光孔位于光耦(6.2)接收面内,所述光耦(6.2)安装在支架(6.1)上,光耦(6.2)用于采集斩波片(6.3)旋转时的交变入射光源信号频率并传输给控制器(5);所述箱体(1)内斩波器(6)前方的空间设为检测仓(7),所述光电辐射传感器(8)放在检测仓(7)内并置于斩波片(6.3)下方;所述控制器(5)安装在检测仓(7)下方,控制器(5)内设置有斩波器(6)驱动与控制电路和高频信号检测电路;所述斩波器(6)驱动与控制电路与斩波器(6)中的马达(6.4)和光耦(6.2)连接,斩波器(6)驱动与控制电路一方面驱动斩波器(6)平稳高速的运转,另一方面根据光耦(6.2)采集到的交变入射光源信号频率精确调整和检测斩波片(6.3)转速;所述高频信号检测电路与光电辐射传感器(8)连接,高频信号检测电路实时精确检测被测光学辐射传感器输出的高频调制信号的振幅。
地址 214127 江苏省无锡市滨湖区锦溪路100号