发明名称 平面度测量装置
摘要 一种平面度测量装置,由激光发射器、位置敏感探测模块、控制器、探头、机壳、压缩弹簧、压盖、互相平行的第一X向滑轨与第二X向滑轨、互相平行的第一Y向滑轨与Y向滑轨以及放置被测零件的基板组成,本发明具有结构简单、使用方便、价格低廉和平面度测量精度高的特点,可应用于批量生产现场和机械加工车间,对平面度进行检测。
申请公布号 CN105547201A 申请公布日期 2016.05.04
申请号 CN201610018721.4 申请日期 2016.01.12
申请人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明人 耿立明;陈卫标;侯霞;夏文兵;李蕊;谢可迪;姜;时伟;杨
分类号 G01B11/30(2006.01)I 主分类号 G01B11/30(2006.01)I
代理机构 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人 张泽纯;张宁展
主权项 一种平面度测量装置,其特征在于:包括激光发射器(1)、位置敏感探测模块(2)、控制器(3)、探头(4)、机壳(5)、压缩弹簧(6)、压盖(7)、互相平行的第一X向滑轨(8)与第二X向滑轨(9)、互相平行的第一Y向滑轨(10)与Y向滑轨(11)以及放置被测零件(13)的基板(12);所述的位置敏感探测模块(2)固定在探头(4)内,探头(4)放置在机壳(5)内,两者之间采用精密间隙配合,探头(4)上表面开一个圆形凹槽,用于放置压缩弹簧(6),压盖(7)设有一凸台,嵌入在圆形凹槽内,压盖(7)与机壳(5)之间通过螺钉固定,压盖(7)向下使压缩弹簧(6)产生形变,对探头(4)上表面施加预紧力;所述的激光发射器(1)由激光器二极管(1.1)、激光壳体(1.2)、准直透镜(1.3)、衰减片(1.4)和聚焦透镜(1.5)组成,激光二极管(1.1)发射的激光束沿中心光轴,依次通过准直透镜(1.3)、衰减片(1.4)和聚焦透镜(1.5);所述的激光发射器(1)固定在机壳(5)外表面,机壳(5)侧壁开一个通光孔,使激光发射器(1)输出的激光聚焦到位置敏感探测模块(2)光敏面的中心区域进行光电转换,控制器(3)固定在机壳(5)的外壁上,通过导线与位置敏感探测模块(2)相连,电信号经控制器(3)进行信号转换和处理,并显示激光光斑几何中心位置信息,因此,将探头(4)的机械位移转换为光斑在探测器光敏面上的位移,实现探头(4)在Z方向的位置测量;所述的机壳(5)分别与第一X向滑轨(8)和第二X向滑轨(9)通过轴孔精密间隙配合连接,第一X向滑轨(8)和第二X向滑轨(9)的两端分别设有方形通槽,并通过该方形通槽与第一Y向滑轨(10)、第二Y向滑轨(11)连接,连接处采用精密间隙配合,第一Y向滑轨(10)、第二Y向滑轨(11)的底部固定于基板(12)的四角上,机壳(5)通过第一X向滑轨(8)和第二X向滑轨(9)实现探头(4)在X方向的移动,通过第一Y向滑轨(10)、第二Y向滑轨(11)实现探头(4)在Y方向的移动。
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