| 摘要 |
본 발명은 제1 및 제2 방향성 결합기(200, 202)를 갖는 시험 장치를 교정 평면 내에서 제1 포트(114) 및 제2 포트(118)를 갖는 2-포트 시험 객체(20)를 시험하기 위하여 교정하기 위한 방법에 관한 것이고, 여기서, 시험 장치를 교정하기 위하여 제1, 제2, 제3, 제4, 제5 및 제6 시험 포트를 갖는 백터 네트워크 분석기가 교정 평면 내의 제1 및 제2 포트들에 연결되어 제1 시험 포트(206)가 교정 평면(16) 내의 제1 포트에 연결되고, 제2 시험 포트(208)는 교정 평면 내의 제2 포트에 연결되고, 전자기 파동들에 대한 각각의 도파관을 통해, 제3 및 제4 시험 포트(210, 212)는 제1 방향성 결합기에 연결되고 제5 및 제6 시험 포트(214, 216)는 제2 방향성 결합기에 연결된다. 상이한 교정 표준들에 대하여, 산점도 파라미터들이 요구 주파수 지점 각각에 대하여 결정되며 방향성 결합기들을 통한 전송을 나타내는 개별적인 산점도 행렬을 계산하기 위하여 사용된다. 상이한 교정 표준들에 대하여, 수정된 산점도 행렬을 획득하기 위하여 산점도 행렬들에 대한 수정이 이루어진다. 수정된 산점도 행렬의 산점도 파라미터들은 한편으로 시험 포트들 사이의 신호 전송에 대한 오류 행렬에 대한 조건을 결정하기 위하여 다른 한편으로 미리 결정된 교정 알고리즘을 사용하기 위하여 사용된다. |
