| 发明名称 |
一种快速次像素绝对定位之方法 |
| 摘要 |
快速次像素绝对定位之装置及方法，步骤包括：(A)撷取一目标物表面之一即时光斑影像；(B)提供一组粗精度光斑座标影像及复数组细精度光斑座标影像，该粗精度光斑座标影像及该细精度光斑座标影像包含一座标值；(C)利用一演算法先比对该即时光斑影像与该粗精度光斑座标影像后再与该细精度光斑座标影像比对而得一座标值；其中每一张该粗精度光斑座标影像系对应一组细精度光斑座标影像，该细精度光斑座标影像系再撷取该粗精度光斑座标影像后，以一固定的细精度位移重覆取像而获得。藉此，可完成快速比对、高精度的次像素定位。
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| 申请公布号 |
TWI532016 |
申请公布日期 |
2016.05.01 |
| 申请号 |
TW103144415 |
申请日期 |
2014.12.19 |
| 申请人 |
国家中山科学研究院 |
发明人 |
黄宜裕;张伟国;黄钦德;刘光新;林文仁;葛平亚 |
| 分类号 |
G06T7/60(2006.01);G01N21/95(2006.01) |
主分类号 |
G06T7/60(2006.01) |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
一种快速次像素绝对定位之方法，步骤包括：(A)撷取一目标物表面之一即时光斑影像；(B)提供一组粗精度光斑座标影像及复数组细精度光斑座标影像，该粗精度光斑座标影像及该细精度光斑座标影像包含一座标值，其中，该粗精度光斑座标影像系设置于一粗精度光斑座标影像资料库，该细精度光斑座标影像系设置于一细精度光斑座标影像资料库；(C)利用一演算法先比对该即时光斑座标影像与该粗精度光斑座标影像后再与该细精度光斑座标影像比对而得一座标值；其中每一张该粗精度光斑座标影像系对应一组细精度光斑座标影像，该细精度光斑座标影像系再撷取该粗精度光斑座标影像后，以一固定的细精度位移重覆取像而获得。
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| 地址 |
桃园市龙潭区中正路佳安段481号 |
