一种基于太赫兹光谱技术测量石墨烯薄膜电导的方法

摘要

本发明涉及一种基于太赫兹光谱技术测量石墨烯薄膜电导的方法，属于太赫兹光谱检测技术应用领域。该方法包括以下步骤：S1：调节获得适应于测量薄膜的太赫兹时域光谱系统光路；S2：测量获取基底材料的太赫兹时域波谱信号；S3：测量获取转移石墨烯薄膜后基底材料的太赫兹时域波谱信号；S4：根据步骤S2和S3采集的信号，利用公式计算太赫兹波段石墨烯电导；S5：建立通过太赫兹光谱技术获得的电导与采用传统的四探针方法获得的电导之间标准关系曲线，获得关联因子；根据关联因子，获得在可见光波段石墨烯电导。该方法适合对转移到半导体或高分子基底上的石墨烯进行检测，同时也适合推广到其他半导体薄膜电导的检测。

主权项

一种基于太赫兹光谱技术测量石墨烯薄膜电导的方法，其特征在于：包括以下步骤：S1：调节获得适应于测量薄膜的太赫兹时域光谱系统光路；S2：测量获取基底材料的太赫兹时域波谱信号；S3：测量获取转移石墨烯薄膜后基底材料的太赫兹时域波谱信号；S4：根据步骤S2和S3采集的信号，利用公式计算太赫兹波段石墨烯电导；S5：建立通过太赫兹光谱技术获得的电导与采用传统的四探针方法获得的电导之间标准关系曲线，获得关联因子；根据关联因子，获得在可见光波段石墨烯电导。