发明名称 一种MOS触发负阻二极管及其制造方法
摘要 本发明涉及半导体技术,特别涉及一种MOS触发负阻二极管(MOS-triggered Dynistor,简称MTD)及其制造方法。本发明提供了一种应用于脉冲功率领域的具有常关型MOS触发负阻二极管。相较于常规MCT,本发明MTD具有穿过N型源区连接阴极金属的P型基区凸起结构。阴极金属连接N型源区和P型基区凸起结构形成阴极短路,使器件具备常关特性,这样可简化驱动电路,增加了系统可靠性。本发明MTD工作模式为PNPN负阻二极管模式,具有很高的峰值电流和电流上升率,非常适合使用于脉冲功率领域。
申请公布号 CN105529370A 申请公布日期 2016.04.27
申请号 CN201510891762.X 申请日期 2015.11.30
申请人 电子科技大学 发明人 陈万军;刘超;唐血锋;娄伦飞;张波
分类号 H01L29/87(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L21/329(2006.01)I 主分类号 H01L29/87(2006.01)I
代理机构 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 代理人 葛启函
主权项 一种MOS触发负阻二极管,包括交替并列设置的PNPN负阻二极管部分和MOS部分,其特征在于,所述PNPN负阻二极管部分包括N型漂移区(4)、位于N型漂移区(4)上表面的P型基区(3)、位于N型漂移区(4)下表面的P型阳极区(5)和位于P型基区(3)上表面的N型源区(1),所述P型阳极区(5)下表面连接有阳极(6),所述N型源区(1)上表面连接有阴极金属(7);所述MOS部分包括N型漂移区(4)、位于N型漂移区(4)下表面的P型阳极区(5)、栅极结构和P型源区(10),所述P型阳极区(5)下表面连接有阳极(6);所述P型源区(10)位于N型源区(1)的上层并与栅极结构接触;其特征在于,所述P型基区(3)通过位于其上表面的凸起结构贯穿N型源区(1)后与阴极金属(7)短接。
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