发明名称 偏光调制分析测量仪
摘要 本实用新型涉及一种偏光调制分析测量仪,主要包括光源(1)、准直透镜(2)、波片(3)、偏振棱镜(4)、聚光透镜(5)和探测器(6),所述光源(1)、准直透镜(2)、波片(3)、偏振棱镜(4)、聚光透镜(5)和探测器(6)的中心处于一线。光源(1)为单色光源。偏振棱镜(4)由多个偏振片构成。波片(3)和偏振棱镜(4)分别设置两个可转动平台上。本实用新型提供的偏光调制分析测量仪使入射光通过一系列调制光学元件,通过机械转动或连续的周期性调制改变检测光学元件的状态从而测出一组出射光的光强值,并对之做傅立叶分析,进而得到四个斯托克斯参量。
申请公布号 CN205192618U 申请公布日期 2016.04.27
申请号 CN201520297160.7 申请日期 2015.05.04
申请人 王灵浩 发明人 王灵浩
分类号 G01J4/00(2006.01)I 主分类号 G01J4/00(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种偏光调制分析测量仪,其特征在于:所述偏光调制分析测量仪主要包括光源(1)、准直透镜(2)、波片(3)、偏振棱镜(4)、聚光透镜(5)和探测器(6),所述光源(1)、准直透镜(2)、波片(3)、偏振棱镜(4)、聚光透镜(5)和探测器(6)的中心处于一线,所述光源(1)为单色光源,所述偏振棱镜(4)由多个偏振片构成,所述波片(3)和偏振棱镜(4)分别设置两个可转动平台上,光源(1)发出的待检测的单色光波经准直透镜(2)变成平行光后,相继通过波片(3)和偏振棱镜(4),再由聚光透镜(5)把待检测的光波聚在探测器(6)上。
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