数据存储装置测试仪

摘要

本发明涉及数据存储装置测试仪。公开一种用于测试数据存储装置(DSD)的DSD测试仪。DSD测试仪包括可操作用于从所述DSD接收DSD日志的控制电路，其中DSD日志包括识别至少一个错误状况的至少一个条目。与所述错误状况关联的命令序列被执行以确定DSD是否有缺陷。

主权项

一种用于测试数据存储装置即DSD的DSD测试仪，所述DSD测试仪包括控制电路，所述控制电路可操作用于：从所述DSD接收DSD日志，其中所述DSD日志包括识别在读取操作期间识别的与错误状况关联的至少一个边缘数据扇区的至少一个条目；确定靠近所述读取操作执行的命令序列；通过执行所述命令序列和所述读取操作来尝试重生所述错误状况；以及当所述错误状况重新发生时，保存所述错误状况。