芯片故障定位方法、装置及系统

摘要

本发明提供一种芯片故障定位方法、装置及系统。本发明芯片故障定位方法，包括：在调试模式下获取调试指令并执行；在测试模式下获取扫描链模式指令；根据所述扫描链模式指令控制芯片的触发器形成扫描链；在所述测试模式下获取测试数据；将所述测试数据输入扫描链中，依次移出所述扫描链中触发器的值；根据移出的触发器的值定位芯片故障位置。本发明提高了故障定位的效率以及准确度。

主权项

一种芯片故障定位方法，其特征在于，所述方法包括：在调试模式下获取调试指令并执行；在测试模式下获取扫描链模式指令；根据所述扫描链模式指令控制芯片的触发器形成扫描链；在所述测试模式下获取测试数据；将所述测试数据输入所述扫描链中，依次移出所述扫描链中触发器的值；根据移出的所述触发器的值定位芯片故障位置；所述扫描链模式指令包括：单条成链模式指令或多条成链模式指令；所述根据所述扫描链模式指令控制芯片的触发器形成扫描链，包括：根据所述单条成链模式指令生成控制信号，根据所述控制信号控制所述触发器的扫描使能端，使所述触发器连接形成一条长扫描链；或者，根据所述多条成链模式指令生成控制信号，根据所述控制信号控制所述触发器的扫描使能端，使所述触发器连接形成多条短扫描链。