发明名称 半導体装置用ボンディングワイヤ
摘要 表面にPd被覆層を有するCuボンディングワイヤにおいて、高温高湿環境でのボール接合部の接合信頼性を改善し、車載用デバイスに好適なボンディングワイヤを提供する。Cu合金芯材と、前記Cu合金芯材の表面に形成されたPd被覆層とを有する半導体装置用ボンディングワイヤにおいて、ボンディングワイヤがInを0.011〜1.2質量%含み、Pd被覆層の厚さが0.015〜0.150μmである。これにより、高温高湿環境下でのボール接合部の接合寿命を向上し、接合信頼性を改善することができる。Cu合金芯材がPt、Pd、Rh、Niの1種以上をそれぞれ0.05〜1.2質量%含有すると、175℃以上の高温環境でのボール接合部信頼性を向上できる。また、Pd被覆層の表面にさらにAu表皮層を形成するとウェッジ接合性が改善する。
申请公布号 JP5912005(B1) 申请公布日期 2016.04.27
申请号 JP20150532223 申请日期 2015.06.05
申请人 日鉄住金マイクロメタル株式会社;新日鉄住金マテリアルズ株式会社 发明人 小田 大造;江藤 基稀;山田 隆;榛原 照男;大石 良;宇野 智裕;小山田 哲哉
分类号 H01L21/60 主分类号 H01L21/60
代理机构 代理人
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