器件测试

摘要

本发明涉及器件测试。器件（100）包括多个单元（110-1,110-2,110-3）。每一个单元包括场效应晶体管（120）和被配置成选择性地将相应场效应晶体管（120）的第二接触件（121-2）与器件（100）的公共测试线（293）连接。器件（100）的控制器（310）被配置成控制开关（301）处于闭合定位中。提供至少一个管脚（171-1,171-3），其被配置成向连接到场效应晶体管（120）的第一接触件（121-1）的公共电力线（191）和公共测试线（393）施加应力电压。

主权项

一种器件（100），包括：‑ 公共电力线（191），‑ 公共测试线（393），以及‑ 多个单元（110‑1‑110‑3），其中多个单元（110‑1‑110‑3）中的每一个包括：　　‑ 包括栅（121‑3）、第一接触件（121‑1）和第二接触件（121‑2）的场效应晶体管（120），第一接触件（121‑1）是场效应晶体管（120）的源和漏中的一个并且耦合到公共电力线（191），第二接触件（121‑2）是源和漏中的另一个，以及　　‑ 开关（301），其被配置成在闭合定位中选择性地将相应场效应晶体管（120）的第二接触件（121‑2）与公共测试线（393）耦合，其中器件（100）还包括：‑ 控制器（310），其被配置成控制多个单元（110‑1‑110‑3）的开关（301）处于闭合定位中，‑ 至少一个管脚（171‑1,171‑3），其被配置成当至少一个开关（301）处于闭合定位中时向公共电力线（191）和公共测试线（393）施加应力电压。