发明名称 半导体封装方法、封装体及封装单元
摘要 本发明提供一种半导体封装方法、封装体及封装单元,所述封装方法包括如下步骤:提供具有多个封装单元的封装体,所述封装体的第一面与一载体结合;对所述封装体进行切割步骤,以使得所述封装单元彼此独立;对与所述载体结合的所述封装单元进行镀金属步骤,以使外露于所述封装单元的金属切面全部被镀金属;去除所述载体。本发明的优点在于,本发明的一个优点在于,利用与封装体结合的载体,例如,利用绝缘载体或封装体本身的导电载体进行镀金属,不需要额外的制程即可实现引脚全电镀,改善可靠性;且框架引脚可以灵活方便设计。
申请公布号 CN105513976A 申请公布日期 2016.04.20
申请号 CN201510874625.5 申请日期 2015.12.02
申请人 上海凯虹电子有限公司;上海凯虹科技电子有限公司;达迩科技(成都)有限公司 发明人 阳小芮;朱惠峰
分类号 H01L21/56(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I 主分类号 H01L21/56(2006.01)I
代理机构 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 代理人 高翠花
主权项 一种半导体封装方法,其特征在于,包括如下步骤:提供具有多个封装单元的封装体,所述封装体的第一面与一载体结合;对所述封装体进行切割步骤,以使得所述封装单元彼此独立;对与所述载体结合的所述封装单元进行镀金属步骤,以使外露于所述封装单元的金属切面全部被镀金属;去除所述载体。
地址 201612 上海市松江区新桥镇陈春公路999号