一种亚像素单元线宽的测量方法及装置

摘要

本发明涉及显示技术领域，公开一种亚像素单元线宽的测量方法及装置，亚像素单元线宽的测量方法包括：扫描显示基板的图像；根据图像的灰度信息获取待测亚像素单元的边缘位置；获取该待测亚像素单元的边缘位置处的色度值，根据色度值判断该待测亚像素单元的边缘位置是否正确；若该待测亚像素单元的边缘位置正确，则根据该边缘位置得到待测亚像素单元的线宽；若该待测亚像素单元的边缘位置不正确，则根据图像的灰度信息重新获取待测亚像素单元的边缘位置，直至对获取的待测亚像素单元的边缘位置的判断结果为正确。本发明的亚像素单元线宽的测量方法可以提高亚像素单元线宽测量的准确性。

主权项

一种亚像素单元线宽的测量方法，其特征在于，包括：扫描显示基板的图像，获取所述图像的灰度信息；根据所述图像的灰度信息获取待测亚像素单元的边缘位置；获取所述待测亚像素单元的边缘位置处的色度值，且根据所述待测亚像素单元的边缘位置处的色度值判断所述待测亚像素单元的边缘位置是否正确；若所述待测亚像素单元的边缘位置正确，则根据所述待测亚像素单元的边缘位置得到待测亚像素单元的线宽；若所述待测亚像素单元的边缘位置不正确，则根据所述图像的灰度信息重新获取待测亚像素单元的边缘位置，直至对获取的待测亚像素单元的边缘位置的判断结果为正确；其中，重新获取的待测亚像素单元的边缘位置与在此之前获取的待测亚像素单元的边缘位置不相同。