发明名称 | 提高氧化物蚀刻选择性的方法 | ||
摘要 | 技术包含蚀刻氧化层的方法,其对底层通道材料有较高的选择性。此蚀刻选择性的增加减少对通道材料的损坏,因而提供更可靠且较佳性能的半导体装置。此处技术包含使用氟碳气体以馈送电浆而产生蚀刻剂,且亦产生弹道电子的通量以在蚀刻制程期间处理一给定的基板。 | ||
申请公布号 | TW201614732 | 申请公布日期 | 2016.04.16 |
申请号 | TW104123012 | 申请日期 | 2015.07.16 |
申请人 | 东京威力科创股份有限公司 | 发明人 | 梅兹 安祖 |
分类号 | H01L21/311(2006.01) | 主分类号 | H01L21/311(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 周良谋;周良吉 | |
主权项 | 一种执行选择性蚀刻制程的方法,用于在一基板上执行特征部的选择性蚀刻制程,该方法包含: 设置一基板在一电浆处理系统内的一基板支座上,该基板具有一图案化的遮罩层,该图案化的遮罩层定义使一氧化层露出的开口,该基板具有在该氧化层下方的一通道材料; 流动一处理气体混合物进入该电浆处理系统,该处理气体混合物包含一氟碳气体; 自该处理气体混合物形成电浆,使得该氧化层系透过该图案化的遮罩层曝露于该电浆,该电浆藉由施加射频功率至该电浆处理系统而形成; 除了施加该射频功率至该电浆处理系统之外,施加负直流功率至该电浆处理系统的一上电极,该上电极具有一面对电浆的表面,该面对电浆的表面包含一导电材料,该导电材料提供回应粒子轰击的二次电子发射;以及 相对于该通道材料蚀刻该氧化层,使得来自该电浆的产物以至少约7比1的比例相对于该通道材料蚀刻该氧化层。 | ||
地址 | 日本 |