发明名称 提高氧化物蚀刻选择性的方法
摘要 技术包含蚀刻氧化层的方法,其对底层通道材料有较高的选择性。此蚀刻选择性的增加减少对通道材料的损坏,因而提供更可靠且较佳性能的半导体装置。此处技术包含使用氟碳气体以馈送电浆而产生蚀刻剂,且亦产生弹道电子的通量以在蚀刻制程期间处理一给定的基板。
申请公布号 TW201614732 申请公布日期 2016.04.16
申请号 TW104123012 申请日期 2015.07.16
申请人 东京威力科创股份有限公司 发明人 梅兹 安祖
分类号 H01L21/311(2006.01) 主分类号 H01L21/311(2006.01)
代理机构 代理人 周良谋;周良吉
主权项 一种执行选择性蚀刻制程的方法,用于在一基板上执行特征部的选择性蚀刻制程,该方法包含: 设置一基板在一电浆处理系统内的一基板支座上,该基板具有一图案化的遮罩层,该图案化的遮罩层定义使一氧化层露出的开口,该基板具有在该氧化层下方的一通道材料; 流动一处理气体混合物进入该电浆处理系统,该处理气体混合物包含一氟碳气体; 自该处理气体混合物形成电浆,使得该氧化层系透过该图案化的遮罩层曝露于该电浆,该电浆藉由施加射频功率至该电浆处理系统而形成; 除了施加该射频功率至该电浆处理系统之外,施加负直流功率至该电浆处理系统的一上电极,该上电极具有一面对电浆的表面,该面对电浆的表面包含一导电材料,该导电材料提供回应粒子轰击的二次电子发射;以及 相对于该通道材料蚀刻该氧化层,使得来自该电浆的产物以至少约7比1的比例相对于该通道材料蚀刻该氧化层。
地址 日本