发明名称 |
用于有源电路封装的微型机电系统(MEMS)装置防静摩擦的装置和方法 |
摘要 |
一个或多个止挡件特征(例如凹凸结构)形成在标准ASIC晶片上的钝化层,用于防止MEMS装置在具有由ASIC晶片直接封端的MEMS装置集成装置中的垂直静摩擦。氮化钛涂层可以用在止挡件特征上用于防止静摩擦。电势可被施加到的一个或多个止挡件特征的氮化钛抗静摩擦涂层上。 |
申请公布号 |
CN105492371A |
申请公布日期 |
2016.04.13 |
申请号 |
CN201480035997.2 |
申请日期 |
2014.06.24 |
申请人 |
美国亚德诺半导体公司 |
发明人 |
陈立;T·K·努南;杨光隆 |
分类号 |
B81B3/00(2006.01)I |
主分类号 |
B81B3/00(2006.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人 |
申发振 |
主权项 |
一种用于在ASIC晶片上形成止挡件特征的方法,所述ASIC晶片包括顶部电路层,所述方法包括:所述顶部电路层上形成HDP‑OX层;所述HDP‑OX腐蚀停止层上形成钝化层;和选择性地腐蚀钝化层以形成至少一个止挡件特征,其中所述HDP‑OX层是用于图案化钝化层的腐蚀停止层。 |
地址 |
美国马萨诸塞州 |