发明名称 |
一种可连续变倍的表面形貌测量装置 |
摘要 |
本发明公开了一种可连续变倍的表面形貌测量装置,包括光源、集光镜系统、分光棱镜、干涉物镜、变倍光学系统、成像光学系统、面阵CCD相机、微移动装置和载物台。集光镜系统出射光朝向分光棱镜,分光棱镜的反射光朝向干涉物镜;变倍光学系统同轴设置在分光棱镜与成像光学系统之间;干涉成像光路与照明光路通过分光棱镜衔接于一体。变倍光学系统为连续变倍光学系统,包括补偿组、变倍组和固定组。本装置可针对不同的放大倍率要求,不需要更换物镜,只需调节变倍光学系统的放大倍率M,即可实现变大或缩小测量视场范围,且放大倍数连续可调。适用于相位差干涉法或者垂直扫描白光干涉法实现表面形貌测量。 |
申请公布号 |
CN105486247A |
申请公布日期 |
2016.04.13 |
申请号 |
CN201510797149.1 |
申请日期 |
2015.11.18 |
申请人 |
镇江超纳仪器有限公司(中外合资) |
发明人 |
夏勇;周伟 |
分类号 |
G01B11/24(2006.01)I |
主分类号 |
G01B11/24(2006.01)I |
代理机构 |
南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 |
代理人 |
张弛 |
主权项 |
一种可连续变倍的表面形貌测量装置,其特征在于:包括光源(1)、接收光源(1)发射光的分光棱镜(3)、干涉物镜(4)、变倍光学系统(6)、成像光学系统(7)、面阵CCD相机(8)、微移动装置(9)、载物台(10);微移动装置(9)与干涉物镜(4)依次同轴设置在分光棱镜(3)的反射光路方向上;干涉物镜(4)与成像光学系统(7)同轴设置在分光棱镜的两侧,构成干涉成像光路;干涉物镜(4)与成像光学系统(7)同轴设置在分光棱镜(3)的两侧,构成干涉成像光路;变倍光学系统(6)同轴设置在分光棱镜(3)与成像光学系统(7)之间;面阵CCD相机(8)同轴设置在成像光学系统(7)的上方;载物台(10)设置在干涉物镜(4)的下方;其中,变倍光学系统(6)包括补偿组(601)、变倍组(602)和固定组(603);补偿组(601)、变倍组(602)和固定组(603)按照从物方到像方的顺序依次同轴设置;变倍组(602)做线性移动来改变焦距的大小;补偿组(601)做非线性移动以补偿像面位移,保持像面位置不变。 |
地址 |
212000 江苏省镇江市丁卯区智慧大道468号双子楼A座1809 |