首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 二次イオン質量分析方法及び標準試料
摘要
申请公布号 JP5904030(B2) 申请公布日期 2016.04.13
申请号 JP20120141253 申请日期 2012.06.22
申请人 富士通株式会社 发明人 多田 陽子
分类号 G01N27/62;G01N23/225;G01N27/64 主分类号 G01N27/62
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com