发明名称 光学元件测量装置和测量方法
摘要 一种光学元件测量装置和测量方法,装置包括连续光纤激光器,沿该连续光纤激光器的输出光束方向依次是光纤准直器、第一偏振分光棱镜、半波片、标准法拉第旋光器、第二偏振分光棱镜、待测光学元件置放台、全反射镜和第三偏振分光棱镜。本发明可对法拉第旋光器、λ/4波片、λ/2波片、电光开关的性能进行测量,还有系统自检功能。该装置具有操作方便,结构紧凑,测量精度高的特点。
申请公布号 CN103884489B 申请公布日期 2016.04.13
申请号 CN201410083597.0 申请日期 2014.03.07
申请人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明人 张玉奇;王江峰;黄文发;彭宇杰;乔治;蒋志龙
分类号 G01M11/02(2006.01)I 主分类号 G01M11/02(2006.01)I
代理机构 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人 张泽纯
主权项 一种光学元件测量装置,其特征在于:该装置包括连续光纤激光器(1),沿该连续光纤激光器(1)的输出光束方向依次是光纤准直器(2)、第一偏振分光棱镜(3)、半波片(4)、标准法拉第旋光器(5)、第二偏振分光棱镜(6)、待测光学元件置放台(7)、全反射镜(8)和第三偏振分光棱镜(9)。
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