发明名称 | 光学元件测量装置和测量方法 | ||
摘要 | 一种光学元件测量装置和测量方法,装置包括连续光纤激光器,沿该连续光纤激光器的输出光束方向依次是光纤准直器、第一偏振分光棱镜、半波片、标准法拉第旋光器、第二偏振分光棱镜、待测光学元件置放台、全反射镜和第三偏振分光棱镜。本发明可对法拉第旋光器、λ/4波片、λ/2波片、电光开关的性能进行测量,还有系统自检功能。该装置具有操作方便,结构紧凑,测量精度高的特点。 | ||
申请公布号 | CN103884489B | 申请公布日期 | 2016.04.13 |
申请号 | CN201410083597.0 | 申请日期 | 2014.03.07 |
申请人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明人 | 张玉奇;王江峰;黄文发;彭宇杰;乔治;蒋志龙 |
分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
代理机构 | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人 | 张泽纯 |
主权项 | 一种光学元件测量装置,其特征在于:该装置包括连续光纤激光器(1),沿该连续光纤激光器(1)的输出光束方向依次是光纤准直器(2)、第一偏振分光棱镜(3)、半波片(4)、标准法拉第旋光器(5)、第二偏振分光棱镜(6)、待测光学元件置放台(7)、全反射镜(8)和第三偏振分光棱镜(9)。 | ||
地址 | 201800 上海市嘉定区800-211邮政信箱 |