发明名称 | 一种太赫兹量子阱探测器绝对响应率的标定方法及装置 | ||
摘要 | 本发明提供一种太赫兹量子阱探测器绝对响应率的标定方法及装置,所述装置至少包括:驱动电源、单频激光源、光学镜、太赫兹阵列探测器、太赫兹功率计、电流放大器及示波器。所述标定方法采用功率可测定的单频激光源作为标定光源,得到探测器在该激光频率处的绝对响应率参数,利用探测器的归一化光电流谱可进一步计算得到探测器在其任意可探测频率处的绝对响应率参数。本发明直接采用周期输出的单频激光源作为标定光源,采用太赫兹阵列探测器和功率计直接测量来获得被标定探测器的入射功率,极大地减小了传统标定方法中背景光、水汽吸收的影响,避免了各种谱积分的复杂计算,整个标定过程简单,引入误差小,具有广泛适用性。 | ||
申请公布号 | CN103776547B | 申请公布日期 | 2016.04.13 |
申请号 | CN201410066672.2 | 申请日期 | 2014.02.26 |
申请人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 发明人 | 谭智勇;曹俊诚;顾立;朱永浩 |
分类号 | G01J5/20(2006.01)I | 主分类号 | G01J5/20(2006.01)I |
代理机构 | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人 | 李仪萍 |
主权项 | 一种用于标定太赫兹量子阱探测器绝对响应率的装置,至少包括:驱动电源、单频激光源、光学镜、太赫兹阵列探测器、太赫兹功率计、电流放大器及示波器,其特征在于:所述单频激光源连接于所述驱动电源,用于在所述驱动电源的驱动信号下辐射出太赫兹激光;所述光学镜放置于所述单频激光器一侧,用于会聚所述太赫兹激光;所述太赫兹阵列探测器放置于所述光学镜一侧,用于测量太赫兹激光会聚焦点处会聚光斑的截面形状;所述太赫兹功率计放置于所述光学镜一侧,用于测量会聚焦点处会聚光斑的总功率;所述电流放大器用于对放置于所述会聚焦点处的太赫兹量子阱探测器供电并将回路电流提取和放大为电压信号;所述示波器分别与所述电流放大器及所述驱动电源连接,用于对所述电压信号进行显示和读取,且显示过程的外部触发信号为所述驱动电源输出的参考信号。 | ||
地址 | 200050 上海市长宁区长宁路865号 |